发明名称 |
触摸面和检测触摸输入的系统和方法 |
摘要 |
本发明公开了一种触摸检测的系统和方法以及一种触摸反应表面。依照一个实施例,提供一种“虚拟”触摸感应面,其中多个发射传感器设备通过检测在触摸面上的位置和移动以接收并计算触摸。触摸面包括一个平面;位于靠近该平面的第一位置上的第一发射传感器设备和位于靠近该平面的第二位置上的第二发射传感器设备,其中每个发射传感器包括一个光束发射器和一个扫描微振镜以反射光束而穿过平面。一个处理单元与第一发射传感器设备和第二发射传感器设备联合运作,并且处理单元被设置以基于光束的一个或多个反射时间来计算在平面上的触摸位置。 |
申请公布号 |
CN101855609A |
申请公布日期 |
2010.10.06 |
申请号 |
CN200880000471.5 |
申请日期 |
2008.12.24 |
申请人 |
香港应用科技研究院有限公司 |
发明人 |
欧阳美思;蔡宜庭;陈守龙;蔡振荣 |
分类号 |
G06F3/042(2006.01)I |
主分类号 |
G06F3/042(2006.01)I |
代理机构 |
深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 |
代理人 |
江耀纯 |
主权项 |
一种触摸面,包括:一个平面;第一发射传感器设备,其位于靠近平面的第一位置上,其中第一发射传感器设备包括第一光束发射器,其被设置以发出第一光束,还包括第一活动表面,用来反射第一光束而穿过该平面,以及包括第一光传感器,其被设置以检测第一光束的反射;第二发射传感器设备,其位于靠近平面的第二位置上,其中第二发射传感器设备包括第二光束发射器,其被设置以发出第二光束,还包括第二活动表面,用来反射第二光束而穿过该平面,以及包括第二光传感器,其被设置以检测第二光束的反射;一个处理单元,其与第一发射传感器设备和第二发射传感器设备联合运行,其中处理单元被设置以基于第一光束的反射时间和第二光束的反射时间来计算该平面上的触摸位置。 |
地址 |
中国香港新界沙田香港科学园科技大道西二号生物资讯中心三楼 |