发明名称 |
半导体器件清洗装置及清洗方法 |
摘要 |
本发明提供半导体器件清洗装置和清洗方法,所述装置通过增设送气单元,向第一水槽内输送气体,从而增加第一水槽内纯水的气体含量,从而使含较高气体含量的纯水与超声波发生装置结合,增加超声波清洗半导体器件的效果和效率;所述清洗方法,在纯水清洗半导体器件之前,向纯水中通入气体,从而增加超声波清洗半导体器件的效果和效率;本发明解决了超声波清洗半导体器件效率低、效果差的技术问题。 |
申请公布号 |
CN101850344A |
申请公布日期 |
2010.10.06 |
申请号 |
CN201010187362.8 |
申请日期 |
2010.05.28 |
申请人 |
上海集成电路研发中心有限公司 |
发明人 |
张晨骋 |
分类号 |
B08B3/04(2006.01)I;B08B3/12(2006.01)I |
主分类号 |
B08B3/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种半导体器件清洗装置,包括第一水槽和第二水槽,所述第一水槽上设有排气管和进水口,所述排气管上设有第一阀门,所述第一水槽和所述第二水槽之间设有第一连接管,所述第一连接管上设有第二阀门,所述第二水槽上设有进气管,所述第二水槽上还设有与工艺腔连接的第二连接管,所述第二连接管上设有第三阀门;其特征在于,所述第一水槽还连接送气单元,用于向所述第一水槽输送气体。 |
地址 |
201210 上海市张江高斯路497号 |