发明名称 |
器件测试装置和方法及其接口装置 |
摘要 |
本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置,所述器件测试装置包含:性能板,以用于安装被测器件,并输入/输出针对所述被测器件的信号;主机,以用于产生所述被测器件的测试波形;头部,以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板,并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号;安装在所述头部与所述性能板之间的接口部,以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此,可以以较低成本进行高速测试。 |
申请公布号 |
CN1992087B |
申请公布日期 |
2010.10.06 |
申请号 |
CN200610080941.6 |
申请日期 |
2006.05.23 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
梁仁秀;朴钟必;田炳焕;俞皓善 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 |
代理人 |
韩明星;李云霞 |
主权项 |
一种器件测试装置,其特征在于包含:性能板,以用于安装被测器件,并输入/输出针对所述被测器件的信号;主机,以用于产生所述被测器件的测试波形;头部,以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板,并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号;安装在所述头部与所述性能板之间的接口部,所述接口部包含:倍频部,以用于倍增所述测试信号频率;对所述测试结果信号进行分频的分频部;控制部,以用于基于所述被测器件的工作速度控制所述倍频部和所述分频部。 |
地址 |
韩国京畿道水原市灵通区梅滩3洞416 |