| 发明名称 | 使用串行受控的资源来测试器件的方法和装置 | ||
| 摘要 | 描述了使用串行受控的资源来测试器件的方法和装置。本发明的例子涉及用于测试待测器件(DUT)的装置。在某些例子中，装置可以包括具有耦合至测试电路的串行输入的集成电路(IC)，该测试电路响应于串行输入上的测试控制信号而与DUT选择性地进行测试信号传送。 | ||
| 申请公布号 | CN101855562A | 申请公布日期 | 2010.10.06 |
| 申请号 | CN200880115433.4 | 申请日期 | 2008.09.24 |
| 申请人 | 佛姆法克特股份有限公司 | 发明人 | 托米·爱德华·贝里 |
| 分类号 | G01R31/3183(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3183(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静 |
| 主权项 | 一种用于测试待测器件(DUT)的装置，包括：集成电路(IC)，具有耦合至测试电路的串行化输入，所述测试电路响应于所述串行化输入上的测试控制信号而与所述DUT选择性地进行测试信号传送。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||