发明名称 |
X-荧光光谱分析用升降式样品盒 |
摘要 |
本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域,具体提供X-荧光光谱分析用升降式样品盒。其结构包括盒体及开有透射孔的面罩,面罩旋接在盒体开口端,其特点是,盒体侧壁设内螺纹,盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。与现有技术相比,本实用新型的X-荧光光谱分析用升降式样品盒具有结构简单、可适应各种样品厚度等特点,可应用于各种厚度样品的X-荧光光谱分析过程中。 |
申请公布号 |
CN201600340U |
申请公布日期 |
2010.10.06 |
申请号 |
CN201020117612.6 |
申请日期 |
2010.02.24 |
申请人 |
袁家义 |
发明人 |
袁家义 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
X-荧光光谱分析用升降式样品盒,包括盒体及开有透射孔的面罩,面罩旋接在盒体开口端,其特征在于,盒体侧壁设内螺纹,盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。 |
地址 |
250013 山东省济南市历下区历山路52号山东省地质科学实验研究院 |