发明名称 X-荧光光谱分析用升降式样品盒
摘要 本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域,具体提供X-荧光光谱分析用升降式样品盒。其结构包括盒体及开有透射孔的面罩,面罩旋接在盒体开口端,其特点是,盒体侧壁设内螺纹,盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。与现有技术相比,本实用新型的X-荧光光谱分析用升降式样品盒具有结构简单、可适应各种样品厚度等特点,可应用于各种厚度样品的X-荧光光谱分析过程中。
申请公布号 CN201600340U 申请公布日期 2010.10.06
申请号 CN201020117612.6 申请日期 2010.02.24
申请人 袁家义 发明人 袁家义
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 X-荧光光谱分析用升降式样品盒,包括盒体及开有透射孔的面罩,面罩旋接在盒体开口端,其特征在于,盒体侧壁设内螺纹,盒体底面与盒体侧壁螺纹连接。
地址 250013 山东省济南市历下区历山路52号山东省地质科学实验研究院