一种芯片测试系统及自动测试向量发生器ATPG

摘要

一种能对不同型号的闪存芯片进行测试与软件加载的系统。它利用现场可编程门阵列FPGA芯片设计一个引脚可配置芯片测试座，结合自动测试向量发生器ATPG功能，克服了现有边界扫描测试与加载设备测试脚本编写困难的不足，大幅缩短了测试周期，降低了测试成本。

主权项

一种引脚可配置芯片测试座，包括：1组IO口；一个边界扫描JTAG接口；一个通用串行总线USB接口；其特征在于，所述引脚可配置芯片测试座还包括：一个现场可编程门阵列FPGA芯片；一个配置芯片；一个Nand Flash闪存芯片；一个自动测试向量发生器ATPG。