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一种时间分解测定装置，用以取得试料之激发所产生量子线的位置资讯及时间资讯，该时间分解测定装置包括：信号产生器，与该试料之激发同步产生基准时间脉波；侦测装置，侦测该量子线，并产生对应侦测位置之位置信号以及与侦测时间同步的侦测时间脉波；位置演算器，使用该位置信号算出该侦测位置；时间差计测器，计测该基准时间脉波以及该侦测时间脉波的时间差；以及资料处理装置，将该位置演算器所算出的该侦测位置与该时间差计测器所计测的该时间差以互相对应的方式进行记忆；其中；该侦测装置具有位置侦测型电子倍增管；该电子倍增管系具有于对应于朝向该量子线之该电子倍增管之入射位置的位置上产生电子并能够在维持此位置的同时倍增该电子之微通道片、及电气连接于该微通道片(micro channelplate)的输出端子；该侦测时间脉波系对应该微通道片所倍增之电子从该微通道片所放出之时的电位变化而产生，该侦测时间脉波系源自该微通道片经由该输出端子送至该时间差计测器；以及该资料处理装置系对应位于该微通道片之上的该侦测时间脉波之产生位置和该输出端子间的距离以修正该时间差，并将修正的该时间差以与该侦测位置对应的方式予以记忆。如申请专利范围第1项之时间分解测定装置，其中该资料处理装置系将该侦测时间脉波从该产生位置到达该输出端子所需之时间从该时间差计测器所计测之时间差中除去以修正该时间差。如申请专利范围第1项之时间分解测定装置，其中该资料处理装置系于该微通道片之上设定复数个取样点，并取得于各取样点所产生之该侦测时间脉波之用的修正资料以进行补间，再使用所补间的该修正资料以修正该时间差。如申请专利范围第1项之时间分解测定装置，其中该资料处理装置系历经该试料之复数次激发并储存该侦测位置以及该时间差。如申请专利范围第4项之时间分解测定装置，其中该资料处理装置系使用所储存之该时间差，并产生对应于特定之该侦测位置之该时间差的长条图。如申请专利范围第5项之时间分解测定装置，其中该试料具有包含致动时能够发光之复数个半导体装置的电路，该试料之激发系驱动该电路并依序致动该复数个半导体装置，且该资料处理装置系特定对应于该半导体装置之位置的该侦测位置，并算出对应于所特定之该侦测位置上该长条图之峰值的该时间差。如申请专利范围第1至6任一项之时间分解测定装置，其中该位置侦测型电子倍增管系具有根据光电效果将该量子线转变为光电子的光电阴极，该微通道片系与该光电阴极相对设置、并自该光电阴极接收该光电子以生成并倍增二次电子。 |
