发明名称 |
Verfahren zur Ermittlung der Leiterstruktur einer Gradientenspule |
摘要 |
Verfahren zur Ermittlung der Leiterstruktur einer Gradientenspule einer Magnetresonanzeinrichtung, wobei die Leiterstruktur in Abhängigkeit des theoretischen Schwingungsverhaltens wenigstens einer in der Montagestellung der Gradientenspule benachbart zu dieser angeordneten metallischen Struktur der Magnetresonaneinrichtung ermittelt wird, wobei das Schwingungsverhalten der metallischen Struktur von der Gradientenspule in der Struktur erzeugten, theoretischen Wirbelströmen abhängt.
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申请公布号 |
DE102009014539(A1) |
申请公布日期 |
2010.09.30 |
申请号 |
DE200910014539 |
申请日期 |
2009.03.24 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
DIETZ, PETER;KRUG, ANDREAS |
分类号 |
G01R33/385;H01F5/00 |
主分类号 |
G01R33/385 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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