| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft allgemein die Bestimmung von Partikelgrössen. Insbesondere betrifft die Erfindung die Bestimmung der Grossen von Partikeln eines Partikelstroms. Dazu ist ein erstes optisches Meßsystem mit einem ersten Matrix-Sensor und eine Beleuchtung, welche das Messvolumen durchleuchtet, vorgesehen, wobei der erste Matrix-Sensor und die Beleuchtung eine Durchlicht -Anordnung bilden, und wobei die Recheneinrichtung eingerichtet ist, aus den Bilddaten des ersten Matrix-Sensors Projektionsflächen von Partikeln innerhalb des durchleuchteten Messvolumens zu bestimmen, und wobei die optische Messanordnung ein zweites optisches Meßsystem mit einem zweiten Matrix-Sensor zur Erfassung des Beugungsmusters der Partikel umfasst, und wobei die Recheneinrichtung eingerichtet ist, anhand der Projektionsflächen und des Beugungsmusters eine Grössenverteilung der Partikel im Messvolumen zu bestimmen, wobei die Recheneinrichtung eingerichtet ist, die Grössenverteilung aus anhand der Projektionsflächen bestimmten Partikelgrössen einerseits und anhand des Beugungsmusters bestimmten Partikelgrössen andererseits zu bilden.</p> |
