发明名称 一种超小型MEMS陀螺仪传感器的制造方法
摘要 本发明公开一种超小型MEMS陀螺仪传感器的制造方法,其包括步骤:提供MEMS晶圆,通过CVD工艺在晶圆上淀积二氧化硅,然后通过CVD工艺淀积氮化硅;在晶圆的正面刻蚀出二氧化硅和氮化硅的图形,用RIE工艺刻蚀晶圆,形成MEMS结构的弹簧区域和金属填埋区域;在晶圆正面溅射金属层作为种子层,光刻后暴露出填埋区域,然后在金属填埋区域填埋出密度大于硅密度的金属;去除MEMS晶圆正面的光刻胶,去除晶圆表面其余位置的种子层;准备双面抛光的玻璃片,用干法在玻璃片上腐蚀出凹槽,形成晶圆上的质量块和玻璃凹腔的间隙;在晶圆背面溅射金属,光刻后形成电极,最后去除光刻胶。本发明减小质量块的尺寸或增加质量块的质量。
申请公布号 CN101844739A 申请公布日期 2010.09.29
申请号 CN200910056996.7 申请日期 2009.03.27
申请人 深迪半导体(上海)有限公司 发明人 邹波;华亚平;李莉
分类号 B81C1/00(2006.01)I;B81B7/02(2006.01)I;B81C5/00(2006.01)I;G01P15/097(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种超小型MEMS陀螺仪传感器的制造方法,其特征在于,其包括以下步骤:S1、提供一MEMS晶圆,通过热氧化或CVD工艺在MEMS晶圆上生长或淀积二氧化硅,然后通过CVD工艺淀积氮化硅,作为硅湿法腐蚀的掩膜;S2、在MEMS晶圆的正面刻蚀出二氧化硅和氮化硅的图形,用RIE或ICP工艺刻蚀MEMS晶圆,或把二氧化硅和氮化硅作为掩膜,用湿法刻蚀MEMS晶圆,形成MEMS结构的弹簧区域和MEMS结构中金属填埋区域;S3、在MEMS晶圆正面溅射金属层作为种子层,然后在晶圆正面涂光刻胶,光刻后暴露出金属填埋区域,然后在金属填埋区域填埋出密度大于硅密度的金属或合金;S4、去除MEMS晶圆正面的光刻胶,再利用填埋后的金属图形作为掩膜,去除晶圆表面其余位置的种子层,并利用氮化硅作阻挡层,用CMP方法除去晶圆平面外的金属,使MEMS晶圆正面平整;S5、准备一片双面抛光的玻璃片或硅片,用干法或湿法在硅片或玻璃片上腐蚀出凹槽,然后将MEMS晶圆正面翻转过来与硅片或玻璃片对准后进行阳极键合,形成了MEMS晶圆上的质量块和玻璃凹腔的间隙;S6、利用CMP工艺将MEMS晶圆的厚度减小到1um至100um,在MEMS晶圆背面溅射金属,光刻后形成电极,再进行光刻后用ICP或RIE工艺刻蚀出MEMS器件的质量块和弹簧结构,最后去除光刻胶后完成MEMS陀螺仪传感器的制造。
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