用于测量熔融金属浴温度的方法和装置

摘要

本发明涉及一种借助于由套壳包绕的光纤测量熔融浴参数的方法。光纤浸入熔融金属浴中，并将熔融金属浴中的光纤吸收辐射馈送到检测器中，其中当浸入在所述熔融浴中时光纤被加热。光纤的加热曲线具有至少一个点P(t0、T0)，其中在第一时间间隔t0-Δt中经过时间Δt后光纤温度达到T0的增量为ΔT1，以及，在紧接其后的第二时间间隔t0+Δt中经过时间Δt后光纤温度的增量为ΔT2，ΔT1小于ΔT2。

主权项

一种通过光纤测量熔融浴参数的方法，所述光纤由套壳包绕，所述光纤浸入所述熔融浴中，并且把所述熔融浴中所述光纤吸收的辐射馈送到检测器中，其中，当浸入所述熔融浴中时所述光纤被加热，所述光纤的加热曲线具有至少一个点P(t0、T0)，其中，在第一时间间隔t0-Δt中经过时间Δt后所述光纤的温度T达到温度T0的增量为ΔT1，以及，在紧接其后的第二时间间隔t0+Δt中，经过时间Δt后所述光纤温度的增量为ΔT2，ΔT1小于ΔT2，其中，在所述第二时间间隔t0+Δt中的温度增量ΔT2至少是所述第一时间间隔t0-Δt中温度增量ΔT1的5倍，并且所述时间Δt最长为500ms。