用于芯片内抖动注入的系统和方法

摘要

诸如DVI、S-ATA或PCI-Express之类的高速I/O接口(600)要求昂贵的测试设备。作为一种替代方案，广泛地使用环回测试，但是其缺少时间相关缺陷的覆盖范围。提出了一种使用具有可控幅度(501)和高精确性的可变延迟(203)用于芯片内抖动注入的系统和方法，改善了环回测试的覆盖范围。

主权项

一种被配置成产生受控量的抖动以插入数据比特的输入序列的可变延迟设备(203)，包括：多相位时钟产生部件(206)(402)，被配置成输出多个n＞1的相位；选择器，包括，i.延迟块(401)，被配置成输出n个选择比特，所述选择比特包括用于选择或阻塞所述多个n＞1的相位的每一个的比特；以及ii.“与”门(404)，被配置成根据n个选择比特的对应比特，阻塞或者放行多个相位的每一个；可编程幅度选择器(501)，被配置成输出最大的预先选定的延迟用以控制插入抖动的幅度；以及“或”门(405)，被配置成将预先选定的延迟(501)与选择器的每一个阻塞或放行的相位相组合，并且输出所得到的延迟作为产生的受控量的抖动。