发明名称 形成氮化镓器件和电路中接地通孔的方法
摘要 本发明提供了一种形成氮化镓器件和电路中接地通孔的方法,它包括以下步骤:(a)在铝镓氮化物/氮化镓异质结外延材料表面涂覆聚合物;(b)将涂有聚合物一面安装于压盘上;(c)将衬底11的表面12进行研磨并抛光减薄;(d)在衬底的表面覆盖厚度为掩膜层,掩膜层23中有预定位置的开孔;(e)采用氟基气体的电感耦合等离子体刻蚀衬底从而获得通孔;(f)保留掩膜层,用氯基气体的电感耦合等离子体进行刻蚀以形成电极的接地通孔;(g)去除掩膜层,并对通孔以及衬底的表面金属化,最终实现电极的接地。本发明排除了接地引线的使用,消除了在微波频率下可能引入的不希望的寄生电感,操作简单、易于技术上的实现。
申请公布号 CN101226891B 申请公布日期 2010.09.29
申请号 CN200810018941.2 申请日期 2008.02.01
申请人 中国电子科技集团公司第五十五研究所 发明人 任春江;陈堂胜;焦刚;陈辰
分类号 H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L21/60(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 柏尚春
主权项 一种形成氮化镓器件和电路中接地通孔的方法,其特征在于,它包括以下步骤:(a)在铝镓氮化物/氮化镓异质结外延材料的势垒层(15)的上表面和电极(16)表面涂覆以聚合物(19);(b)将涂有聚合物(19)的一面朝下倒扣安装于压盘(21)上,并在聚合物(19)和压盘(21)之间填充粘合剂(20);(c)将衬底(11)的表面(12)采用机械研磨的方法进行研磨并抛光,最终将衬底(11)减薄到50~100μm;(d)在衬底(11)的表面(12)覆盖厚度为2-5μm的掩膜层(23),掩膜层(23)中有与器件或者电路中需要进行通孔接地的电极(16)正对的用于确定通孔的预定位置的开孔;其中掩膜层(23)为Ti/Ni双层金属;(e)采用氟基气体的电感耦合等离子体刻蚀衬底(11)从而获得通孔(24);(f)保留掩膜层(23),换用氯基气体的电感耦合等离子体对铝镓氮化物/氮化镓异质结材料进行刻蚀以形成电极(16)的接地通孔(17);(g)去除掩膜层(23),并对通孔(17)以及衬底(11)的表面(12)金属化,从而形成电极(16)到衬底(11)的表面(12)上的一个完整的接头,最终实现电极(16)的接地;其中掩膜层(23)的制作方法包括以下步骤:(a)在衬底(11)的表面(12)上涂覆光刻胶,光刻并显影,形成通孔刻蚀区域的光刻胶层(22);(b)在衬底(11)的表面(12)上采用电子束蒸发的方法依次淀积50纳米的金属钛和100纳米的金属镍形成掩膜层(23),金属镍同时覆盖在光刻胶层(22)上;(c)将光刻胶层(22)连同其上的金属剥离后形成掩膜层(23)中正对电极(16)的用以确定通孔位置的开孔;(d)将金属镍采用电镀的方法加厚至2-5μm。
地址 210016 江苏省南京市中山东路524号