优化探针台扎针次数的方法

摘要

本发明公开了一种优化探针台扎针次数的方法，通过对晶圆上所有芯片的位置进行数据采集，并根据探针卡的形状与晶圆匹配的形状，将所有可能的扎针路线及次数全部计算出来，根据结果得到最少的扎针次数。采用本发明的方法可以极大限度缩短整枚晶圆的测试时间，极大的降低了测试成本，提升芯片的竞争力。

主权项

一种优化探针台扎针次数的方法，其特征在于：首先，对被测晶圆进行芯片分布取样，然后，根据晶圆图形和探针卡形状的具体情况，对所有可能的步进路线进行穷举计算，得到所有可能路线的扎针次数，并同时记录所有可能路线的起始位置和步进路线，从所有结果中选取最少的扎针次数进行起始位置和行进路线的指定；其中所述探针卡为长方形，所述步进路线为从左至右之字形，或从上至下之字形。