发明名称 |
像素结构及其制造方法 |
摘要 |
一种像素结构及其制造方法,该制造方法包括下列步骤,首先,执行第一道光掩模工艺,以在基板上形成图案化第一金属层,图案化第一金属层包含栅极。接着,执行第二道光掩模工艺,以在栅极上方形成图案化绝缘层及图案化半导体层,图案化绝缘层位于图案化第一金属层上,图案化半导体层位于图案化绝缘层上。然后,执行第三道光掩模工艺,以定义出薄膜晶体管及与薄膜晶体管耦接的像素电极,并形成保护层覆盖薄膜晶体管。本发明可在工艺上节省许多时间及原物料,大幅降低整体的生产成本并减少供货时间。 |
申请公布号 |
CN101159276B |
申请公布日期 |
2010.09.22 |
申请号 |
CN200710187023.8 |
申请日期 |
2007.11.19 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
林汉涂;陈建宏 |
分类号 |
H01L27/12(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I;G02F1/1362(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/12(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
陈晨 |
主权项 |
一种像素结构,包括:薄膜晶体管,设置于基板上,包括:栅极,形成在第一道光掩模工艺过程中;绝缘层,设置于该栅极上,形成在第二道光掩模工艺过程中;半导体层,设置于该绝缘层上,形成在第二道光掩模工艺过程中;源极与漏极,设置于该半导体层之上,形成在第三道光掩模工艺过程中;及氧化金属层,设置于该半导体层及该源极与该漏极之间;以及像素电极,设置于该基板上,电性连接于该薄膜晶体管,形成在第三道光掩模工艺过程中,该像素电极为多晶态金属氧化物,该漏极经由该氧化金属层电性连接该像素电极。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |