发明名称 一种基于Contourlet变换的质降参考图像质量评价方法
摘要 本发明公开了一种基于Contourlet变换的质降参考图像质量评价方法,该方法利用Contourlet变换对图像的方向信息进行捕捉,有效地提取反映参考图像和测试图像的纹理结构信息的图像Contourlet变换域子带的变换系数矩阵的均值和标准差作为图像的统计特征值,通过比较参考图像和测试图像之间纹理结构信息的相似度,最终获得测试图像的质量分值,利用图像之间纹理结构信息的相似度进行图像质量评价可以不要求参考图像具有相当好的视觉质量,图像质量评价结果只单纯地反映参考图像与测试图像之间的相似度,即评价结果可以客观地反映图像处理或压缩算法对图像质量变化的影响。
申请公布号 CN101378519B 申请公布日期 2010.09.22
申请号 CN200810121149.X 申请日期 2008.09.28
申请人 宁波大学 发明人 蒋刚毅;郁梅;王旭
分类号 H04N17/00(2006.01)I 主分类号 H04N17/00(2006.01)I
代理机构 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人 程晓明
主权项 1.一种基于Contourlet变换的质降参考图像质量评价方法,其特征在于包括以下步骤:(1)、定义图像质量评价中用于参照的原始图像为参考图像,能够获得参考图像的一方称为发送端;定义原始图像经失真过程后得到的失真图像为测试图像,获得测试图像的一方称为接收端;(2)、在发送端,利用公知的Contourlet变换算法对参考图像进行M级Contourlet变换,获得参考图像的Contourlet变换系数集合<img file="F200810121149XC00011.GIF" wi="138" he="71" />在接收端,利用公知的Contourlet变换算法对测试图像同样进行M级Contourlet变换,获得测试图像的Contourlet变换系数集合<img file="F200810121149XC00012.GIF" wi="138" he="71" />其中,<img file="F200810121149XC00013.GIF" wi="71" he="53" />为参考图像经M级Contourlet变换后获得的Contourlet变换域第m级第n个子带的变换系数矩阵,<img file="F200810121149XC00014.GIF" wi="70" he="60" />为测试图像经M级Contourlet变换后获得的Contourlet变换域第m级第n个子带的变换系数矩阵,<img file="F200810121149XC00015.GIF" wi="71" he="53" />和<img file="F200810121149XC00016.GIF" wi="71" he="60" />具有相等的列数和行数,m=1,2,…,M,M为参考图像或测试图像进行M级Contourlet变换所获得的Contourlet变换域分辨率最高的级,n为参考图像或测试图像的Contourlet变换域中分辨率相同的同级子带的编号,当m&gt;1时,n=1,2,…,2<sup>m+1</sup>,当m=1时,n=0,1,…,4,当m=1且n=0时表示该子带为低频子带,当m≥1且n≠0时表示该子带为高频子带;(3)、在发送端,选取参考图像的Contourlet变换域子带,并统计所选的这些子带的变换系数矩阵的统计特征值,然后将统计特征值通过质降参考信道发送到接收端;(4)、在接收端,根据接收到的由发送端发送的参考图像的Contourlet变换域所选子带的变换系数矩阵的统计特征值,统计与参考图像的Contourlet变换域所选子带相对应的测试图像的Contourlet变换域子带的变换系数矩阵的统计特征值;(5)、在接收端,利用接收到的参考图像的Contourlet变换域所选子带的变换系数矩阵的统计特征值与接收端统计得到的与参考图像的Contourlet变换域所选子带相对应的测试图像的Contourlet变换域子带的变换系数矩阵的统计特征值,对测试图像的质量进行度量,计算测试图像的质量分值。
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