发明名称 三轴测斜仪校验台
摘要 本实用新型涉及检测设备领域,公开了一种三轴测斜仪校验台。其包括:可调节水平的圆柱形的底座,在圆柱形的底座端面上安装有底盘,在底盘的外周标有刻度,在底盘的端面上设置有用于指示探管方向角的指针,在底盘上设置有垂直于底盘端面的两立柱,在两立柱的上端部设置有台体,台体可沿本台体与两立柱的相交线为轴线旋转,轴线与底盘端面平行,在机台的外周设置有刻度;在台体的中心安装有用于安装探管的卡夹,卡夹的轴线与台体的端面垂直。其使用更加简便。
申请公布号 CN201589611U 申请公布日期 2010.09.22
申请号 CN200920061325.5 申请日期 2009.07.28
申请人 北京深度科技有限责任公司 发明人 佘磊
分类号 G01C9/00(2006.01)I;G01C9/02(2006.01)I;E21B47/02(2006.01)I 主分类号 G01C9/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种三轴测斜仪校验台,其特征是,包括:可调节水平的圆柱形的底座,在所述圆柱形的底座端面上安装有底盘,在所述底盘的外周标有刻度,在所述底盘的端面上设置有用于指示探管方向角的指针,在所述底盘上设置有垂直于所述底盘端面的两立柱,在所述两立柱的上端部设置有台体,所述台体可沿本台体与所述两立柱的相交线为轴线旋转,所述轴线与所述底盘端面平行,在所述机台的外周设置有刻度;在所述台体的中心安装有用于安装探管的卡夹,所述卡夹的轴线与所述台体的端面垂直。
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