发明名称 |
网络监控的半导体装置测试系统 |
摘要 |
本发明揭露一种网络监控的半导体装置测试系统,包括一测试设备、一测试系统服务器以及一个或多个测试控制终端。上述测试系统服务器无线地接收自测试设备、测试控制终端、设计设备或制造设备所传送的测试请求。测试系统服务器依照上述测试请求,无线地传送测试数据至测试设备,以对一半导体装置进行测试程序。本发明可提供一个更即时且便利的测试环境,有效提高测试品质。 |
申请公布号 |
CN101840877A |
申请公布日期 |
2010.09.22 |
申请号 |
CN200910129407.3 |
申请日期 |
2009.03.18 |
申请人 |
普诚科技股份有限公司 |
发明人 |
洪赞富 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;G05B19/418(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种网络监控的半导体装置测试系统,其特征在于,包括:一测试设备,用以测试一半导体装置,以进行一测试程序;一测试系统服务器,无线地传送一测试数据至该测试设备,以进行该测试程序,以及无线地接收自该测试设备所传送的一测试结果;一或多个测试控制终端,无线地接收自该测试系统服务器所传送的该测试数据,借以无线地传送该测试数据至该测试设备,以进行该测试程序;以及其中该测试系统服务器无线地接收自一设计设备、一制造设备、该测试设备或该测试控制终端所传送的一测试请求,并无线地传送该测试结果至该设计设备、该制造设备、该测试设备或该测试控制终端。 |
地址 |
中国台湾台北县 |