| 发明名称 | 双能X射线阵列探测器 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供了一种双能X射线阵列探测器，其在X射线入射方向分别包含第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列，上述各功能器件集成为一个部件。利用这种双能X射线阵列探测器能够测量穿透物体的X射线能谱中低能部分和高能部分的相对差别，进而提供材料识别的依据。 | ||
| 申请公布号 | CN201583666U | 申请公布日期 | 2010.09.15 |
| 申请号 | CN200920109045.7 | 申请日期 | 2009.06.30 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 赵书清;李元景;代主得;张清军 |
| 分类号 | G01T1/20(2006.01)I;G01T1/202(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 王岳;李家麟 |
| 主权项 | 一种双能X射线阵列探测器，其特征在于，该双能X射线阵列探测器在沿X射线的入射方向上依序包括第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列，所述第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列均集成在所述PCB板上。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||