发明名称 一种低温多晶硅薄膜材料的制造方法
摘要 本发明提供一种基于金属吸附技术的多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1):选定衬底,在该衬底上形成具有凹槽的第一阻挡层;步骤2):在所述第一阻挡层上依次形成金属诱导层、第二层阻挡层、非晶硅层和金属吸附层;步骤3):对步骤2)所得产物进行退火处理,得到晶化的多晶硅薄膜;步骤4):去除经所述退火处理后的金属吸附层。采用本发明的方法可以缩短热处理时间、提高晶粒尺寸,有效控制了诱导金属往非晶硅层扩散。
申请公布号 CN101834125A 申请公布日期 2010.09.15
申请号 CN201010112025.2 申请日期 2010.02.09
申请人 广东中显科技有限公司 发明人 彭俊华;黄飚;黄宇华
分类号 H01L21/20(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 一种低温多晶硅薄膜材料的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1):选定衬底,在该衬底上形成具有凹槽的第一阻挡层;步骤2):在所述第一阻挡层上依次形成金属诱导层、第二层阻挡层、非晶硅层和金属吸附层;步骤3):对步骤2)所得产物进行退火处理,得到晶化的多晶硅薄膜;步骤4):去除经所述退火处理后的金属吸附层。
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