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一种可无段式调整进给行程之测试装置，系用于检测一晶片，该测试装置包括：一承载座，具有一容置空间及固定在该容置空间底部一测试基板，所述晶片是置放在该容置空间中并与该测试基板电性连接；一可掀式盖体，枢接在该承载座的一侧边且罩盖在该承载座上，该可掀式盖体设有一螺孔；以及一旋转压掣组件，用以压掣所述晶片，且其包含一螺柱、一旋钮及一固定元件，该螺柱与该螺孔相互螺接而能够相对于该可掀式盖体作轴向移动，在该螺柱端面设有一结合孔，该旋钮开设有对应该结合孔的一长槽，该固定元件是穿设该长槽以与该结合孔相互固接；其中释放该固定元件后，可调整该固定元件在该长槽内的位置，同时令该旋钮及该螺柱产生旋转偏位，进而改变该螺柱在该螺孔中的进给行程。如请求项第1项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该旋转压掣组件更包括一抵压块，该抵压块系抵接该螺柱的另一端，并结合在该可掀式盖体的底面。如请求项第2项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该抵压块更结合有一弹性构件，该弹性构件包含一弹性垫及设置在该弹性垫上的一弹性元件。如请求项第3项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该弹性元件为一弹簧，且该弹簧元件系夹设在该弹性垫及该抵压块之间。如请求项第1项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该承载座的一侧边设有一扣槽，该可掀式盖体的一侧边相对具有一扣板，该扣板系扣合在该扣槽中，以将该可掀式盖体固定在该承载座上。如请求项第1项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该可掀式盖体的顶面具有一凸缘，该凸缘的外缘系成型有至少一限制部。如请求项第6项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该旋钮在朝向该可掀式盖体的一侧面设置有一卡制块，该限制部系挡抵该卡制块而阻碍该旋钮的旋转。如请求项第7项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该旋钮的另一侧面系具有一扳块，施力于该扳块以令该旋钮旋转者。如请求项第1项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该旋钮设有复数刻度及位在该些刻度一侧边的一开孔，该开孔中更结合有一指示杆，该指示杆系固定在该螺柱上。如请求项第1项所述之可无段式调整进给行程之测试装置，其中该旋钮设有一通孔，该螺柱的顶面更成型有一凸块，该凸块系穿设在该通孔中。 |
