| 主权项 |
一种基板检测装置，用以对一基板进行检测，其中该基板具有一正面以及相对于该正面之一背面，该基板检测装置包含：一底座；两支撑件，由该底座向上延伸并相对设置，界定出一观测开口及一检测开口，其中当该待检测之基板以正面朝上之方式放置于该两支撑件间时，该基板系位于该检测开口中；及一反射镜，设于该两支撑件之间，并可绕一旋转轴旋转，其中当该待检测之基板以正面朝上之方式放置于该两支撑件间时，该反射镜系位于该基板之下方，以将该检测开口中之基板的背面影像反射至该观测开口。如申请专利范围第1项之基板检测装置，其中该两支撑件上另设有一承置架，跨设于该两支撑件间，以于该两支撑件间围构出该检测开口。如申请专利范围第2项之基板检测装置，另包含：一光源，设于该两支撑件之间，用以照亮待检测基板的背面。如申请专利范围第1项之基板检测装置，另包含：一旋钮，设于其中一个支撑件上，用以控制该反射镜绕该旋转轴旋转的角度。如申请专利范围第2项之基板检测装置，其中该承置架系由两相互平行的杆件所构成，各该杆件系跨设于该两支撑件上。如申请专利范围第5项之基板检测装置，其中该两杆件的相对侧的上表面形成有平行各该杆件的凹部。如申请专利范围第5项之基板检测装置，其中该两杆件中的其中一个系可于该等支撑件上移动，以使得该两杆件间的距离得以调整。如申请专利范围第7项之基板检测装置，其中该可移动之杆件系滑设于该等支撑件上。如申请专利范围第8项之基板检测装置，另包含：两旋钮，系分别用以将该可滑动的杆件固定于该两支撑件上。如申请专利范围第5项之基板检测装置，其中各该杆件中央处的上表面形成有通至该等凹部的缺口。如申请专利范围第3项之基板检测装置，其中该两支撑件系为相对设置于该底座之第一片状结构，该基板检测装置另包含两设置于该底座上的第二片状结构，与该等第一片状结构共同将光源圈围住。 |
