| 主权项 |
一种对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，包括：一第1基准时钟脉冲生成部，生成具有一第1频率的一第1基准时钟脉冲；一第1测试速率生成部，根据该第1基准时钟脉冲，生成表示一第1测试图形供给至该电子元件的供给周期的一第1测试速率时钟脉冲；一第1驱动部，根据该第1测试速率时钟脉冲，将该第1测试图形供给至该电子元件；一第2基准时钟脉冲生成部，生成频率在预先确定的频率范围内可变的一第2基准时钟脉冲；一第1相位同步部，使该第2基准时钟脉冲与该第1测试速率时钟脉冲相位同步；一第2测试速率生成部，根据相位同步的该第2基准时钟脉冲，生成表示一第2测试图形供给至该电子元件的供给周期的一第2测试速率时钟脉冲；以及一第2驱动部，根据该第2测试速率时钟脉冲，将该第2测试图形供给至该电子元件。如申请专利范围第1项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，其中该第1测试速率生成部包括：一测试周期发生器，根据该第1基准时钟脉冲，生成单位时间的脉冲数与该第1测试速率时钟脉冲大致相同的一测试周期脉冲信号；以及一第1定时延迟器，使该测试周期脉冲信号中的各脉冲延迟，使得脉冲间隔大致相同，生成该第1测试速率时钟脉冲；该第1相位同步部可以使该第2基准时钟脉冲与该第1定时延迟器生成的该第1测试速率时钟脉冲相位同步。如申请专利范围第2项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，其中该第2测试速率生成部包括：一参照时钟脉冲振荡部，生成频率为该第2基准时钟脉冲频率的2以上的整数倍的一参照时钟脉冲；一参照时钟脉冲分频器，将该参照时钟脉冲分频，生成该第2测试速率时钟脉冲；一测试速率时钟脉冲分频器，将该第2测试速率时钟脉冲分频，生成具有与该第2测试速率时钟脉冲频率大致相同的一测试速率分频时钟脉冲；以及一相位调整部，根据该第2测试速率时钟脉冲与该测试速率分频时钟脉冲的相位误差，调整该参照时钟脉冲的相位。如申请专利范围第1项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，其中该第2基准时钟脉冲生成部包括：一可变频率时钟脉冲发生器，生成频率在预先确定的频率范围内可变的一可变频率时钟脉冲；一可变频率时钟脉冲分频器，将该可变频率时钟脉冲分频，生成具有与该第1测试速率时钟脉冲频率大致相同的该第2基准时钟脉冲；该第1相位同步部包括：一相位检测器，检测该第1测试速率时钟脉冲与该第2基准时钟脉冲的一相位误差；以及一相位调整部，根据该相位误差，使该可变频率时钟脉冲与该第1测试速率时钟脉冲相位同步。如申请专利范围第1项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，更包括：一图形开始信号生成部，在该第2基准时钟脉冲与该第1测试速率时钟脉冲相位同步的状态下，生成开始对该电子元件供给该第1测试图形与该第2测试图形的一图形开始信号；且该第1驱动部与该第2驱动部根据该图形开始信号，开始供给该第1测试图形与该第2测试图形。如申请专利范围第5项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，更包括：一第1图形开始信号同步部，使该图形开始信号与该第1测试速率时钟脉冲同步；以及一第2图形开始信号同步部，使该图形开始信号与该第2测试速率时钟脉冲同步；该第1驱动部根据与该第1测试速率时钟脉冲同步的一第1图形开始信号，开始供给该第1测试图形；以及该第2驱动部根据与该第2测试速率时钟脉冲同步的一第2图形开始信号，开始供给该第2测试图形。如申请专利范围第1项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，其中该第1测试速率生成部与该第1驱动部分别包括：一测试周期发生器，根据该第1基准时钟脉冲，生成单位时间的脉冲数与该第1测试速率时钟脉冲大致相同的测试周期脉冲信号；以及一第1定时延迟器，生成使该测试周期脉冲信号中的各脉冲延迟的延迟信号；该第1测试速率生成部的该第1定时延迟器，生成使该测试周期脉冲信号中的各脉冲以脉冲间隔大致相同的延迟的该延迟信号，即该第1测试速率时钟脉冲；以及该第1驱动部的该第1定时延迟器，生成使该测试周期脉冲信号中的各脉冲延迟与该第1测试图形相对应确定的时间的该延迟信号，即上述第1测试图形。如申请专利范围第7项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，更包括：一图形开始信号生成部，在该第2基准时钟脉冲与该第1测试速率时钟脉冲相位同步的状态下，生成开始对该电子元件供给该第1测试图形与该第2测试图形的一图形开始信号；上述第2驱动部包括：一第2定时延迟器，使该第2测试速率时钟脉冲中的各脉冲延迟，生成该第2测试图形，且该第1定时延迟器与该第2定时延迟器可以设定该第1驱动部与该第2驱动部根据该图形开始信号开始同步向该电子元件供给该第1测试图形与该第2测试图形所应有的延迟量。如申请专利范围第8项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，更包括：一同步开始信号供给部，在开始供给该第1测试图形与该第2测试图形的情况下，向该第1测试速率生成部供给开始生成该第1测试速率时钟脉冲的一同步开始信号，且该图形开始信号生成部，在该第2基准时钟脉冲与接受该同步开始信号、让该第1测试速率生成部开始生成的该第1测试速率时钟脉冲的相位同步的状态下，生成让该第1驱动部与该第2驱动部开始向该电子元件供给该第1测试图形与该第2测试图形的该图形开始信号。如申请专利范围第1项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，更包括：一第3基准时钟脉冲生成部，生成频率在预先确定的频率范围内可变的一第3基准时钟脉冲；一第2相位同步部，使得该第3基准时钟脉冲与该第1测试速率时钟脉冲相位同步；一第3测试速率时生成部，根据相位同步的该第3基准时钟脉冲，生成表示向该电子元件供给一第3测试图形的供给周期的一第3测试速率时钟脉冲；以及一第3驱动部，根据该第3测试速率时钟脉冲，将该第3测试图形供给至该电子元件。如申请专利范围第1项所述之对具有不同工作频率的电子元件进行测试用的测试装置，更包括：一第3测试速率生成部，根据该第1基准时钟脉冲，生成表示向该电子元件供给一第3测试图形的供给周期的一第3测试速率时钟脉冲；一第3驱动部，根据该第3测试速率时钟脉冲，将该第3测试图形供给至该电子元件；一第3基准时钟脉冲生成部，生成频率在预先确定的频率范围内可变的一第3基准时钟脉冲；一第2相位同步部，使得该第3基准时钟脉冲与该第1测试速率时钟脉冲相位同步；一第4测试速率时生成部，根据相位同步的该第3基准时钟脉冲，生成表示向该电子元件供给一第4测试图形的供给周期的一第4测试速率时钟脉冲；以及一第4驱动部，根据该第4测试速率时钟脉冲，将该第4测试图形供给至该电子元件。 |
