发明名称 | 一种现场可编程门阵列的测试方法及系统 | ||
摘要 | 本发明涉及一种现场可编程门阵列(FPGA)的测试方法,包括:获取现场可编程门阵列的初始设计网表和初始设计配置;采用逻辑函数的异或功能替换所述初始设计网表和初始设计配置的查找表单元的功能,得到初始测试网表和初始测试配置;基于可测性分析方法的预置规则,选择所述初始测试网表的观察节点,并获取测试网表和相应的测试向量;配置所述观察节点到所述初始测试配置的输出输入单元的输出端,得到测试配置;以及依据配置器件的激励信号,连接所述测试配置至配置器件,获得所述测试向量的输出逻辑值;分析所述输出逻辑值与所述测试向量的响应值,获得测试结果;该方法能够有效检测FPGA芯片在应用设计时所使用到的互连线的固定故障。 | ||
申请公布号 | CN101413990B | 申请公布日期 | 2010.09.08 |
申请号 | CN200810227979.0 | 申请日期 | 2008.12.03 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 冯建华;林腾;徐文华;王阳元 |
分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 张国良 |
主权项 | 一种现场可编程门阵列的测试方法,其特征在于,包括:获取现场可编程门阵列的初始设计网表和初始设计配置;采用逻辑函数的异或功能替换所述初始设计网表和初始设计配置的查找表单元的功能,得到初始测试网表和初始测试配置;依据可测性分析方法的预置规则,选择所述初始测试网表的观察节点,基于所述观察节点获取测试网表和相应的测试向量;配置所述观察节点到所述初始测试配置的输出输入单元的输出端,得到测试配置;以及依据配置器件的激励信号,连接所述测试配置至配置器件,获得所述测试向量的输出逻辑值;分析所述输出逻辑值与所述测试向量的响应值,获得测试结果。 | ||
地址 | 100871 北京市海淀区颐和园路5号 |