| 发明名称 | 接合检测结构和接合结构 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种接合检测结构和接合结构。该接合检测结构包括至少一弹性凸块，位于基板上。接合检测结构选择性地包括至少一导电层，至少覆盖弹性凸块的顶部，其中弹性凸块或导电层至少具有一开口，且弹性凸块或导电层的顶部的观察面积大于开口的面积。 | ||
| 申请公布号 | CN101825650A | 申请公布日期 | 2010.09.08 |
| 申请号 | CN200910004644.7 | 申请日期 | 2009.03.02 |
| 申请人 | 台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会;中华映管股份有限公司;友达光电股份有限公司;瀚宇彩晶股份有限公司;奇美电子股份有限公司;财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 杨省枢;李筱婷;安超群 |
| 分类号 | G01R1/02(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 陶凤波 |
| 主权项 | 一种接合检测结构，设置在基板上，包括：至少一弹性凸块，位于该基板上；以及选择性地包括至少一导电层，至少覆盖该弹性凸块的顶部，其中该弹性凸块或该导电层至少具有一开口，且该弹性凸块或该导电层的顶部的观察面积大于该开口的面积。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹县 | ||