| 发明名称 | 获取眼镜框架几何特征的装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一装置，所述装置包括：一固定的基准部件(3)；以及框架(2)厚度估测部件。所述框架厚度估测部件包括用于测量轮廓的触探器(19)，该触探器测量所述框架的内轮廓，并相对于所述固定的基准部件(3)是活动的。本发明还涉及一种框架几何特征获取方法，按照所述方法，框架(2)的厚度通过触探器(19)进行估测。 | ||
| 申请公布号 | CN101056740B | 申请公布日期 | 2010.09.08 |
| 申请号 | CN200580039117.X | 申请日期 | 2005.08.11 |
| 申请人 | 百利奥国际公司 | 发明人 | O·博泽托 |
| 分类号 | B24B9/14(2006.01)I;G01B5/20(2006.01)I | 主分类号 | B24B9/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 余全平 |
| 主权项 | 眼镜框架几何特征的获取装置，其包括：一固定的基准部件(3)；至少一对框架紧持机构(11，12)；位置测量与记录部件，其测量并记录所述紧持机构中的一第一紧持机构(11)的位置；与厚度估测部件，其估测所述框架的厚度e，并包括一轮廓测量触探器(19)，所述轮廓测量触探器测量所述框架的内轮廓并相对于所述基准部件(3)是活动的，其特征在于，所述获取装置包括：移动部件，所述移动部件用于把所述轮廓测量触探器(19)移动到一个与第二紧持机构(12)相接触的位置；以及位置记录部件，其记录所述轮廓测量触探器相应的接触位置，所述厚度估测部件适于利用被记录的所述第一紧持机构的位置和所述轮廓测量触探器相应的接触位置来估测所述框架(2)的厚度e。 | ||
| 地址 | 法国拉阿尔谢 | ||