发明名称 | 一种用于熔融金属的激光诱导击穿光谱装置 | ||
摘要 | 一种用于熔融金属的激光诱导击穿光谱装置,属于激光诊断和测量技术领域。包括光源系统、光路系统及信号采集分析系统,光源发出的激光与光路系统的二向色镜形成45°入射角,光路系统将收集到的光信号通过光纤传入信号采集分析系统中进行分析。本实用新型利用激光直接照射熔融金属产生等离子体,然后把等离子体所辐射的光进行采集分析,实时的监测熔融金属的组分含量,可以根据所得到的分析结果实时指导冶炼生产过程。利用本实用新型可以提高产品质量,减少缺陷;降低能源消耗;增加熔炼周转次数,提高产能;延长炉体寿命。 | ||
申请公布号 | CN201575971U | 申请公布日期 | 2010.09.08 |
申请号 | CN200920288332.9 | 申请日期 | 2009.12.23 |
申请人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 发明人 | 辛勇;于海斌;杨志家;孙兰香;丛智博;孔海洋 |
分类号 | G01N21/63(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/63(2006.01)I |
代理机构 | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人 | 许宗富 |
主权项 | 一种用于熔融金属的激光诱导击穿光谱装置,其特征在于:包括光源系统、光路系统及信号采集分析系统,光源发出的激光与光路系统的二向色镜形成45°入射角,光路系统通过光纤与信号采集分析系统连接。 | ||
地址 | 110016 辽宁省沈阳市东陵区南塔街114号 |