| 主权项 |
一种控制由玻璃片切割出子片呈现出扭曲之方法，该玻璃片由具有抽拉速率的抽拉处理过程制造出玻璃带状物切割出，该玻璃具有凝结区域温度范围，玻璃带状物具有中心线，该方法包含：(a)在沿着带状物的一个或多个纵向位置上处决定带状物的横跨带状物形状，其中带状物中央线玻璃的温度在凝结区域温度范围之内，以及(b)在沿着带状物的一个或多个纵向位置产生跨带状物的温度分布，其系根据在步骤(a)中决定出一个或多个跨带状物形状之至少一个形状，使得切割自带状物的玻璃片群组之每一子片最大扭曲为2微米，其中群组中每一片的面积大于或等于0.25平方公尺。依据申请专利范围第1项之方法，其中玻璃在凝结区域温度范围内具有良好点温度范围以及步骤(a)中一个或多个纵向位置之至少一个位置为在带状物中心线处玻璃温度在良好点温度范围内良好点温度范围内之位置。依据申请专利范围第1项之方法，其中步骤(b)中一个或多个纵向位置之至少一个位置为与步骤(a)中一个或多个纵向位置之一位置相同。依据申请专利范围第1项之方法，其中在步骤(a)中决定出一个或多个横跨带状物形状之至少一个形状包含一组多个形状元件以及在步骤(b)中产生一个或多个横跨带状物温度分布之至少一个分布依据至少一个横跨带状物形状分解为形状元件选取出。依据申请专利范围第1项之方法，其中：(i)该形状元件包含至少第一形状元件以及第二形状元件；(ii)第一形状元件具有第一空间频率组成以及第二形状元件具有第二空间频率组成；(iii)第一空间频率组成对应于较低空间频率低于第二空间频率组成；以及(iv)在步骤(b)中一个或多个横跨带状物温度分布之至少一个分布系依据第一形状元件。依据申请专利范围第1项之方法，其中在步骤(a)中决定出一个或多个横跨带状物形状之至少一个形状包含可发展形状元件以及不可发展形状元件以及在步骤(b)中产生一个或多个横跨带状物温度分布之至少一个分布系依据不可发展之形状元件。依据申请专利范围第1项之方法，其中在步骤(a)中决定出一个或多个横跨带状物形状之至少一个形状加以过滤以去除至少一些空间频率以及以及在步骤(b)中产生一个或多个横跨带状物温度分布之至少一个分布系依据该过滤形状。依据申请专利范围第1项之方法，其中在步骤(a)中决定出一个或多个横跨带状物形状之至少一个形状系依据对由带状物切割下一片或多片玻璃片及/或对由一片或多片玻璃片切割下子片进行应力，形状，及/或平面中形状改变之量测。依据申请专利范围第1项之方法，其中：(i)抽拉处理过程包含系列实质上相同的循环，每一循环由带状物切割玻璃片延伸至由带状物切割下一玻璃片；(ii)在每一循环中，带状物之形状变化为时间之函数；及(iii)在步骤(a)中决定出一个或多个横跨带状物形状之至少一个形状以时间函数加以决定。一种控制由玻璃片切割出子片呈现出扭曲之方法，该玻璃片由具有抽拉速率的抽拉处理过程制造出玻璃带状物切割出，玻璃带状物具有中心线，该方法包含：(i)决定出该抽拉速率玻璃之凝结区域温度范围；以及(ii)沿着带状物在一个或多个纵向位置处产生带状物的横跨带状物温度分布，其中带状物之中央线处玻璃的温度是在凝结区域温度范围之内，其依据在无重力条件下玻璃片之代表性形状，使得由带状物切割下玻璃片群组之每一玻璃片切割出子片的最大扭曲为2微米，而群组中每一片的面积大于或等于0.25平方公尺。一种使用玻璃制造处理过程产生玻璃片之方法，该玻璃制造处理过程产生玻璃带状物，该玻璃制造处理过程具有抽拉速率以及方法包含：(a)决定出该抽拉速率玻璃之凝结区域温度范围(SZTR); (b)在一组运作条件下产生至少一片玻璃，该条件包括沿着玻璃通过SZTR处的带状物长度至少一个纵向位置之目标温度值，该目标温度值是分布在横跨带状物宽度的位置上("横跨带状物位置")；(c)在此组运作条件下产生的至少一片玻璃进行一种或多种以下的测量：(i)在玻璃片上及/或从玻璃片切割的一个或多个子片上多个空间分隔位置处之应力值，而此玻璃片及/或子片被真空吸引至平面("应力值"),(ii)玻璃片及/或从玻璃片切割的一个或多个子片在无重力状况下和平坦面的偏差值("无重力和平坦面的偏差值"),(iii)玻璃片及/或从玻璃片切割的一个或多个子片在重力状况下和平坦面的偏差值("重力和平坦面的偏差值")，以及(iv)玻璃片平面内形状改变值及/或从玻璃片切割的一个或多个子片的扭曲值("形状改变/扭曲值")；(d)将步骤(c)所测量的值和一或多个扭曲准则及/或一个或多个替代情况扭曲准则作比较；(e)决定出沿着玻璃通过SZTR的带状物长度至少一个纵向位置上的横跨带状物位置之目标温度修正值，其利用和一个或多个扭曲准则及/或一个或多个替代情况扭曲准则比较，以及(f)使用步骤(e)决定的目标温度修正值产生至少一片玻璃；(g)在步骤(f)中产生的至少一片玻璃进行一种或多种以下的测量：(i)应力值,(ii)无重力和平面的偏差值,(iii)重力和平面的偏差值，和(iv)形状改变/扭曲值；以及(h)将步骤(f)所测量的值和一个或多个扭曲准则及/或一个或多个替代扭曲准则作比较，而且需要情况下重复(d)到(f)一次或多次，使用相同的至少一个纵向位置及/或沿着带状物长度至少一个不同的纵向位置。依据申请专利范围第11项之方法，其中在步骤(e)中，改正目标温度值使用计算机模拟决定出，该模拟能够使横跨带状物热分布变化与预测应力变化及/或玻璃带状物及/或由带状物切割下玻璃片应变产生关连。依据申请专利范围第11项之方法，其中重复步骤(e)到(g)持续到决定出至少一个纵向位置和在该位置处目标温度值，其产生量测值将满足一个或多个扭曲准则及/或一个或多个替代扭曲准则。依据申请专利范围第11项之方法，其中量测值分解为空间元件以及这些分解数值使用于决定出目标温度数值中。依据申请专利范围第14项之方法，其中：(i)该空间元件包含至少第一空间元件以及第二空间元件；(ii)第一空间元件具有第一空间频率组成以及第二空间元件具有第二空间频率组成；(iii)第一空间频率组成对应于较低空间频率低于第二空间频率组成；以及(iv)第一空间元件使用于决定目标温度值。依据申请专利范围第11项之方法，其中量测数值分解系依据可发展空间元件以及不可发展之空间元件以及依据不可发展空间元件之分解数值可使用于决定目标温度值。依据申请专利范围第11项之方法，其中量测数值加以过滤以去除至少一些空间频率以及过滤数值使用于决定目标温度值。依据申请专利范围第11项之方法，其中量测数值为步骤(b)及/或步骤(f)中产生群组玻璃片之平均值。 |
