发明名称 聚合物、光阻组成物、以及形成图案的方法
摘要
申请公布号 TWI329784 申请公布日期 2010.09.01
申请号 TW094102514 申请日期 2005.01.27
申请人 信越化学工业股份有限公司 日本;中央硝子股份有限公司 日本;松下电器产业股份有限公司 日本 发明人 畠山润;原田裕次;河合义夫;笹子胜;远藤政孝;岸村真治;前田一彦;小森谷治彦;山中一广
分类号 G03F7/004 主分类号 G03F7/004
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种聚合物,其包含通式(1a)、(1b)及(1c)的重覆单元:@sIMGTIF!d10007.TIF@eIMG!其中R1、R2、R5及R6各为氢或氟原子,R3及R7各为氟原子或具有1至10个碳原子的直链、支化或环状氟烷基,R4是酸易变基团,R8是选自下列基团的随附基团:@sIMGTIF!d10008.TIF@eIMG!而通式(1c)为至少一种选自下列各式者:@sIMGTIF!d10009.TIF@eIMG!如申请专利范围第1项之聚合物,其中R3及R7各为三氟甲基。如申请专利范围第1项之聚合物,其中R4所表示的酸易变基团是至少一个选自通式(2)至(4)的基团:@sIMGTIF!d10010.TIF@eIMG!@sIMGTIF!d10011.TIF@eIMG!@sIMGTIF!d10012.TIF@eIMG!其中R14及R17各为具有1至20个碳原子的单价烃基,R15及R16各为氢或具有1至20个碳原子的直链、支化或环状烷基,R18至R20各为具有1至20个碳原子且其中一些氢原子可为氟原子所替代的单价烃基,R14至R20可以含有杂原子例如氧、硫、氮或氟,R15与R16、R15与R17、R16与R17、R18与R19、R18与R20及R19与R20每一对基团可彼此键结而与其所键结之碳原子或碳及氧原子形成3至20(特别是4至12)个碳原子的环,该环为单环、杂环或类似物,并且g为0至10之数字。如申请专利范围第1项之聚合物,其进一步再包含至少一种选自下式(1d)的重覆单元:@sIMGTIF!d10013.TIF@eIMG!其中R26是氢、羟基或具有1至10个碳原子的直链、支化或环状烷基。如申请专利范围第1项之聚合物,其进一步再包含至少一种选自下式(1e)的重覆单元:@sIMGTIF!d10014.TIF@eIMG!一种光阻组成物,包含申请专利范围第1项之聚合物。一种化学放大正型光阻组成物,其包含(A)申请专利范围第1项之聚合物,(B)有机溶剂,及(C)光酸产生剂。如申请专利范围第7项之光阻组成物,其进一步再包含(D)硷性化合物。如申请专利范围第7项之光阻组成物,其进一步再包含(E)溶解抑制剂。一种形成图案的方法,其包含以下步骤:将申请专利范围第6项之光阻组成物施加至基材上以形成涂层,将该涂层施以热处理,再经由光罩将其曝于具有波长最高至200 nm的高能量辐射,以及视需要将该曝光后的涂层实施热处理并以显影剂实施显影。如申请专利范围第10项之方法,其中该高能量辐射为ArF准分子雷射束。
地址 日本;日本;日本