以全内反射进行光学检测的微电子传感器设备

摘要

本发明涉及一种用于进行光学检测例如检测包括标记粒子(1)如磁粒子(1)的目标成份的微电子传感器设备。输入光束(L1)被传输进载体(111)并在结合表面(112)上全内反射而产生“一阶TIR光束”(LTIR(1))，该光束被镜面系统(例如5个反射面(114))再次引导至其中再次被全内反射为“二阶TIR光束”(LTIR(2))的结合表面(112)，等等。最后，包括“(N+1)阶TIR光束”的光的输出光束(L2)离开载体以被光检测器(31)检测，其中N为给定的自然数。

主权项

一种用于在载体(111-611)的结合表面(112)上进行光学检测、特别是用于检测包括标记粒子(1)的目标成份的微电子传感器设备，包括：a)用于朝向结合表面发射输入光束(L1)的光源(21)，所述光束在结合表面被全内反射为“一阶TIR光束”(LTIR(1))；b)用于将n阶TIR光束(LTIR(1))重定向到结合表面(112)的“镜射系统”，所述光束在结合表面被全内反射为“(n+1)阶TIR光束”(LTIR(2))，其中n＝1，...，N，N为给定的自然数；c)用于检测包括(N+1)阶TIR光束的光的输出光束(L2)的光检测器(31)。