发明名称 碳纳米管键合焊盘结构及其制造方法
摘要 一种用于集成电路(IC)的键合焊盘结构(300),使用碳纳米管以提高线键合(360)的强度和弹性。在示例实施例中,在IC衬底上有键合焊盘结构(300),该键合焊盘结构包括:具有顶表面和底表面的第一导电层(310),底表面附着于IC衬底上。在第一导电层(310)的顶表面上沉积电介质层(320),该电介质层具有通路阵列(325),通路阵列中填充有碳纳米管材料(325),该碳纳米管材料(325)与第一导电层(310)电耦合。存在着具有顶表面和底表面的第二导电层(330),该第二导电层的底表面与碳纳米管材料(325)电耦合。该实施例的特征也可以包括由碳纳米管材料组成的第一(410、510)或第二(430、530)导电层。
申请公布号 CN101185164B 申请公布日期 2010.09.01
申请号 CN200680018797.1 申请日期 2006.03.27
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 克里丝·怀兰德
分类号 H01L23/485(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I 主分类号 H01L23/485(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 朱进桂
主权项 一种集成电路衬底上的键合焊盘结构(300),该键合焊盘结构包括:具有顶表面和底表面的第一导电层(310),该底表面附着于集成电路衬底上并与之接触;在第一导电层的顶表面上沉积的电介质层(320),该电介质层具有通路阵列,通路阵列中的每一个填充有碳纳米管材料(325),碳纳米管材料与第一导电层(310)电耦合;以及沉积于电介质层(320)之上且具有顶表面和底表面的第二导电层(330),该第二导电层的底表面与该碳纳米管材料(325)电耦合。
地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市