发明名称 光盘非对称性的测试装置和方法
摘要 一种光盘非对称性的测试装置与方法,该装置由该装置由RF信号读出系统、均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器和数据处理系统构成,所述的均衡器、比较电平发生器、第一比较器、高通滤波器、上半波提取器、下半波提取器、峰值保持器、谷值保持器、反向器、第一峰值探测器、第一谷值探测器、第二谷值探测器、第二峰值探测器可在一片可编程逻辑门阵列上实现,本发明具有原理简单,实现方便,可靠实用,能灵活扩展功能和性价比高的优点。
申请公布号 CN101819787A 申请公布日期 2010.09.01
申请号 CN201010148107.2 申请日期 2010.04.15
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 王国华;阮昊;李曹建
分类号 G11B7/095(2006.01)I 主分类号 G11B7/095(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种光盘非对称性的测试装置,特征在于该装置由RF信号读出系统(1)、均衡器(2)、比较电平发生器(3)、第一比较器(4)、高通滤波器(5)、上半波提取器(6)、下半波提取器(7)、峰值保持器(8)、谷值保持器(9)、反向器(10)、第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)、第二峰值探测器(14)和数据处理系统(15)构成,上述元部件的位置关系如下:①所述的RF信号读出系统(1)的输出端与所述的均衡器(2)的输入端相连,该均衡器(2)有六个输出端,分别连接所述的比较电平发生器(3)的输入端、高通滤波器(5)的输入端、上半波提取器(6)的第一输入端、下半波提取器(7)的第一输入端、第一峰值探测器(11)的输入端和第一谷值探测器(12)的输入端;②所述的高通滤波器(5)的输出端接所述第一比较器(4)的第二输入端;③所述的第一比较器(4)的第一输入端与所述的比较电平发生器(3)的输出端相连,该比较器(4)有四个输出端,分别与所述的上半波提取器(6)的第二个输入端、所述的下半波提取器(7)的第二个输入端、所述的峰值保持器(8)的第二输入端、所述反向器(10)的输入端相连;④所述的反向器(10)的输出端接所述的谷值保持器(9)的第二输入端;⑤所述上半波提取器(6)的输出端接所述的峰值保持器(8)的第一输入端,该峰值保持器(8)的输出端接所述第二谷值探测器(13)的输入端;⑥所述下半波提取器(7)的输出端接所述的谷值保持器(9)的第一输入端,该谷值保持器(9)的输出端接所述第二峰值探测器(14)的输入端;⑦所述第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)和第二峰值探测器(14)的输出端都连接所述的数据处理系统(15)。
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