发明名称 用于提高封装应力隔离的传感器几何形状
摘要 本发明公开了一种用于提高封装应力隔离的传感器几何形状。在背板上的埋头孔提高了传感器的应力隔离性能。埋头孔使得保持与封装的接触面积的背板壁变薄。可以调整埋头孔的深度和直径,以找到允许背板吸收更多封装应力的几何形状。背板的壁变薄使其硬度更小,并且允许背板吸收更多在与封装的界面处产生的应力。埋头孔还在背板的底部保持大的表面积,产生了与封装的牢固结合。
申请公布号 CN101820814A 申请公布日期 2010.09.01
申请号 CN200880111342.3 申请日期 2008.10.09
申请人 霍尼韦尔国际公司 发明人 G·莫雷尔斯;C·E·斯图尔特;R·A·戴维斯;A·D·布拉德利
分类号 A61B5/02(2006.01)I 主分类号 A61B5/02(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 周春梅;曹若
主权项 一种用于在传感器封装中提高封装应力隔离的方法,包括:提供形成在背板上的埋头孔,以提高所述背板的应力隔离;调整所述埋头孔的深度和直径,以找到允许所述背板吸收更多封装应力的几何形状;以及应用所述几何形状来降低在所述背板上的偏置温度系数(TCO)。
地址 美国新泽西州