发明名称 | 测试治具及测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种测试治具及测试方法,该测试治具用以测试一待测试转轴组。测试治具包括一第一拟机体以及一第二拟机体。第一拟机体与第二拟机体用以让待测试转轴组连接于其二者,使得第二拟机体可相对于第一拟机体掀起或闭合。第二拟机体包括一第一部件、至少一第二部件与至少一连接件。第二部件位于第一部件的一侧,且与第一部件相隔一间距。连接件连接第一部件与第二部件。本发明有关于一种测试治具及测试方法,其利用具有多个部件的拟机体来模拟实际机体,以确实地测试出转轴的使用期限与其承受反复地作动的能力,使得设有该转轴的电子产品的质量可有效地掌握与控制。 | ||
申请公布号 | CN101819087A | 申请公布日期 | 2010.09.01 |
申请号 | CN200910118319.3 | 申请日期 | 2009.02.27 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 戴宝华;邓志明 |
分类号 | G01M13/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M13/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 梁挥;祁建国 |
主权项 | 一种测试治具,用以测试一待测试转轴组,其特征在于,该测试治具包括:一第一拟机体;以及一第二拟机体,该第一拟机体与该第二拟机体用以让该待测试转轴组连接于其二者,使得该第二拟机体可相对于该第一拟机体掀起或闭合,该第二拟机体包括:一第一部件;至少一第二部件,位于该第一部件的一侧,且与该第一部件相隔一间距;以及至少一连接件,连接该第一部件与该至少一第二部件。 | ||
地址 | 中国台湾台北市 |