发明名称 |
用于测量大直径单晶的检测台 |
摘要 |
一种用于测量大直径单晶的检测台,它包括:台架,台架的台面中部有一弧形凹槽,台架的一侧设有驱动轮,驱动轮通过链条连接链轮,链轮上装有支撑单晶的拖辊,链条上设有张紧轮,台架的底部装有万向轮,台架的上方装有照明装置。本实用新型的优点是:将原来只能在地面上滚动单晶测,手持光源进行检测,改为靠拖辊支撑单晶,并缓慢滚动单晶,光照均匀,从而减少了单晶的磕碰,大大减少人力的搬运,保证了单晶的安全,同时照明设备使得单晶的观测更加清楚,使单晶检测更加简便,数据更加准确。 |
申请公布号 |
CN201569388U |
申请公布日期 |
2010.09.01 |
申请号 |
CN200920277825.2 |
申请日期 |
2009.11.26 |
申请人 |
北京有色金属研究总院;有研半导体材料股份有限公司 |
发明人 |
石宇;李惠;曹孜 |
分类号 |
G01B5/00(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 |
代理人 |
郭佩兰 |
主权项 |
一种用于测量大直径单晶的检测台,其特征在于:它包括:台架,台架的台面中部有一弧形凹槽,台架的一侧设有驱动轮,驱动轮通过链条连接链轮,链轮上装有支撑单晶的拖辊,链条上设有张紧轮,台架的底部装有万向轮,台架的上方装有照明装置。 |
地址 |
100088 北京市新街口外大街2号 |