发明名称 |
散射物质多维光谱测量装置与方法 |
摘要 |
本发明公开了一种散射物质多维光谱测量装置,该测量装置包括光源、样品池、出射光检测器和物理扰动装置,所述光源的入射位置固定,所述样品池截面为方形且位置固定,出射光导出装置的位置是可移动的,进而改变样品池、光源和出射光检测器形成的光路,扰动装置可对被测物施加物理扰动。同时,本发明还公开了一种散射物质多维光谱测量方法,通过对所述出射光检测器的位置进行水平方向和竖直方向的移动,采集出射光斑半径光谱分布,实现多光程长的互不相关的非线性光谱测量,同时,本发明对被测物体施加物理扰动信号,进而得到光程长和物理扰动信号为变量的被测物的多维光谱信息,进而提供更丰富的物质含量信息,提高物质成分分析精度。 |
申请公布号 |
CN101813623A |
申请公布日期 |
2010.08.25 |
申请号 |
CN201010152294.1 |
申请日期 |
2010.04.22 |
申请人 |
天津大学 |
发明人 |
李刚;赵喆;林凌;王慧泉 |
分类号 |
G01N21/49(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/49(2006.01)I |
代理机构 |
天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
代理人 |
李素兰 |
主权项 |
一种散射物质多维光谱测量装置,包括光源、样品池、出射光检测器和扰动装置,其特征在于:所述光源的入射位置是固定的,所述样品池位置是固定的、且截面为方形;所述出射光检测器是可移动的,所述光源射出并经样品池到出射光检测器所形成的光路是变化的;所述扰动装置为一用于对被测物施加物理扰动的物理扰动装置。 |
地址 |
300072 天津市南开区卫津路92号 |