发明名称 基于四象限探测器的哈特曼波前传感器的自适应标定装置
摘要 基于四象限探测器的哈特曼波前传感器的自适应标定装置,包括分光镜、标定变形镜、微透镜阵列、匹配透镜、四象限探测器阵列、波前处理机和波前控制器,其特征在于:首先利用标定变形镜改变四象限探测器光敏面处光斑的位置,让光斑质心与四象限探测器的中心重合,从而消除系统误差;然后保持标定变形镜的面型不变,校正回路闭环校正待校正波前。本发明采用标定变形镜改变光斑的位置,让光斑质心与四象限探测器的中心重合,消除了由于系统误差带来的采样误差;并且结构简单、工作状态稳定,工艺容易实现;与现有的技术相比,还可以减少计算量,为高精度、高帧频地校正弱目标波前信号提供了条件。
申请公布号 CN101344434B 申请公布日期 2010.08.25
申请号 CN200810222096.0 申请日期 2008.09.09
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 马晓燠;饶长辉
分类号 G01J9/00(2006.01)I 主分类号 G01J9/00(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 贾玉忠;卢纪
主权项 基于四象限探测器的哈特曼波前传感器的自适应标定装置,包括分光镜(1)、微透镜阵列(3)、匹配透镜(4)、四象限探测器阵列(5)、波前处理机(6)和波前控制器(7),其特征在于:在装置中引入一个标定变形镜(2);分光镜(1)、标定变形镜(2)、微透镜阵列(3)、匹配透镜(4)、四象限探测器阵列(5)、波前处理机(6)和波前控制器(7)构成装置的标定回路(11),首先标定平面波(13)经过分光镜(1)的反射后入射到标定变形镜(2)上,再反射进入哈特曼波前传感器(15)中,标定回路(11)闭环校正哈特曼波前传感器(15)的系统误差,使微透镜阵列(3)上的每个微透镜(9)的光斑(16)质心同与它对应的四象限探测器(10)中心相重合;分光镜(1)、标定变形镜(2)、微透镜阵列(3)、匹配透镜(4)、四象限探测器阵列(5)、波前处理机(6)、波前控制器(7)和校正变形镜(8)构成装置的校正回路(12),标定完成后,保持标定变形镜(2)的面型不变,校正回路(12)闭环校正待校正波前(17);哈特曼波前传感器(15)包括微透镜阵列(3)、匹配透镜(4)、四象限探测器阵列(5)、波前处理机(6);所述的标定变形镜(2)的控制是依据输入标定平面波(13)时标定变形镜(2)的反射波前(14)透过微透镜阵列(3)和匹配透镜(4)后在四象限探测器阵列(5)处形成光斑(16)的质心与四象限探测器阵列(5)上的四象限探测器(10)中心的偏离量,利用波前控制器(7)对偏离量处理后调整标定变形镜(2)的面型以改变其反射波前(14),完成标定后反射波前(14)透过微透镜阵列(3)和匹配透镜(4)后在四象限探测器阵列(5)处形成光斑(16)的质心与四象限探测器(10)的中心相重合,此时四象限探测器(10)的四个象限的输出的电压值相等。
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