测试装置;TESTING DEVICE

摘要

本创作提供一种测试装置，用于测试无功能晶片之转接卡。转接卡具有待测介面和输出介面。测试装置包括控制元件和转档元件。控制元件电性连接转接卡。控制元件发出测试讯号至待测介面，并从输出介面接收输出讯号。控制元件判断输出讯号与测试讯号是否一致，据此产生测试结果。转档元件电性连接控制元件以接收测试结果并提供转档资讯。

主权项

1.一种测试装置，用于测试一无功能晶片之转接卡，该转接卡具有一待测介面和一输出介面，该测试装置包括：一控制元件，电性连接该转接卡，该控制元件发出一测试讯号至该待测介面，并从该输出介面接收一输出讯号，该控制元件判断该输出讯号与该测试讯号是否一致，据此产生一测试结果；以及一转档元件，电性连接该控制元件以接收该测试结果并提供一转档资讯。 ;2.如申请专利范围第1项所述之测试装置，还包括一指示元件，电性连接该控制元件，用于指示该测试结果。 ;3.如申请专利范围第1项所述之测试装置，还包括一转接元件，该转接元件耦接该控制元件和该转接卡之该输出介面。 ;4.如申请专利范围第3项所述之测试装置，其中该转接元件为另一无功能晶片之转接卡。 ;5.如申请专利范围第1项所述之测试装置，还包括一终端元件，该终端元件电性连接该转档元件以接收并显示该转档资讯。 ;6.如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该测试讯号为电压讯号。 ;7.如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该转档元件包括一显示元件，用于显示该测试结果与多个提示资讯。 ;8.如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该转档元件包括一复位电路，用于当该待测介面不良时复位该转档元件。 ;9.如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该转档资讯包括该转接卡的编号、该测试结果、一站台号以及一测试时间。 ;10.如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中该待测介面为一MINI介面。;图1所示为本创作第一较佳实施例之测试装置的功能方块图。;图2所示为本创作第一较佳实施例之转档元件的转档程式的执行流程图。;图3所示为本创作第二较佳实施例之测试装置的功能方块图。;图4所示为本创作第二较佳实施例之转档元件的转档程式的执行流程图。