| 发明名称 | 一种测试智能卡可靠性的方法 | ||
| 摘要 | 本发明针对智能卡在生产、制造和使用过程中，数据异常丢失或者功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)实施加速老化测试方法对卡片进行测试；(3)测试完成后，检验测试卡的功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。本发明提出的智能卡的测试方法，对智能卡可靠性进行严格地考核，能够提前发现产品由于芯片系统设计不足而引起的制造过程成品率降低的问题，以及克服在使用环境中智能卡的数据易丢失等缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN101413986B | 申请公布日期 | 2010.08.18 |
| 申请号 | CN200710163658.4 | 申请日期 | 2007.10.17 |
| 申请人 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 发明人 | 永福;吴彩峰 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I;G01R31/3181(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于所述方法，包括以下步骤：(1)生成测试卡；(2)通过实施老化测试方法对卡片进行测试；(3)测试完成后，检验测试卡的电性能和功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。 | ||
| 地址 | 100102 北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层 | ||