| 发明名称 | 用于观察样本表面的设备 | ||
| 摘要 | 一种用于观察半透明材料的样本(1)的表面(2)的外观的设备，设备包括：用于从预定方向至少照射样本(1)的表面的感兴趣区域(16)的光源(11)和用于观察对感兴趣区域(16)照射的响应的装置(14)，其中，被照射的区域(5)包括：感兴趣区域(16)和感兴趣区域(16)周围的区域。由此，所发射的散射光(32)对样本(1)的外观的观察的准确性的影响被最小化。 | ||
| 申请公布号 | CN101809431A | 申请公布日期 | 2010.08.18 |
| 申请号 | CN200880108521.1 | 申请日期 | 2008.09.23 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | S·瓦德曼 |
| 分类号 | G01N21/55(2006.01)I;A61B5/103(2006.01)I;G01B11/30(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/55(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 周红力;谭祐祥 |
| 主权项 | 一种用于观察半透明材料样本(1)的表面(2)的外观的设备，该设备包括：用于从预定方向至少照射样本(1)的表面(2)的感兴趣区域(16)的光源(11)和用于观察对照射感兴趣区域(16)的响应的装置(14)，其中，被照射区域(5)包括：感兴趣区域(16)和感兴趣区域(16)周围的区域。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||