发明名称 采用全光学膜体系的垂直结构发光二极管制作方法
摘要 一种采用全光学膜体系的垂直结构发光二极管制作方法,包括:在衬底上依次外延生长N型接触层、有源区和P型接触层;刻蚀,将器件隔离;在P型接触层上制作ITO光学膜;在ITO光学膜上制作光学高反膜,部分区域裸露;在光学高反膜上和裸露的ITO膜区域制作金属膜,构成器件的P电极;将绝缘的衬底去除,裸露出氮化镓N型接触层;在氮化镓N型接触层表面制作ITO导电光学减反膜;对ITO导电光学减反膜进行表面粗化处理;在ITO导电光学减反膜上制作金属电极;在芯片表面沉积介质膜,以进行表面钝化保护;将金属电极区域的介质膜去除,进行压焊封装,完成器件的制作。
申请公布号 CN101355119B 申请公布日期 2010.08.18
申请号 CN200710119474.8 申请日期 2007.07.25
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 伊晓燕;王良臣;王国宏;李晋闽
分类号 H01L33/00(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种采用全光学膜体系的垂直结构发光二极管制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:利用金属化学有机气相沉积方法在衬底上依次外延生长氮化镓N型接触层、多量子阱有源区和氮化镓P型接触层;步骤2:采用感应耦合等离子体、电子回旋共振、反应离子刻蚀干法刻蚀技术进行器件隔离;步骤3:在氮化镓P型接触层上采用电子束蒸发技术制作ITO光学膜;步骤4:采用离子束溅射技术在ITO光学膜上制作一层光学高反膜,高反膜采用网状结构,即ITO光学膜部分区域被光学高反膜覆盖,部分区域裸露,该结构通过光刻剥离技术得到;步骤5:采用热蒸发、电子束蒸发技术在光学高反膜上和裸露的ITO膜区域制作一层金属膜,用作二次反射镜和键合层,该ITO光学膜、光学高反膜与金属膜构成器件的P电极;步骤6:P电极制作完成后与硅、铜高热导率衬底键合;步骤7:采用激光剥离、湿法腐蚀技术将绝缘的衬底去除,裸露出氮化镓N型接触层;步骤8:采用电子束蒸发技术在氮化镓N型接触层表面制作ITO导电光学减反膜;步骤9:采用湿法腐蚀技术对ITO导电光学减反膜进行表面粗化处理;步骤10:在ITO导电光学减反膜上制作金属电极;步骤11:采用等离子增强化学气相沉积技术在芯片表面沉积介质膜,以进行表面钝化保护;步骤12:将金属电极区域的介质膜去除,进行压焊封装,完成器件的制作。
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