发明名称 用于多结太阳电池的GaAs/InP晶片低温直接键合方法
摘要 一种用于多结太阳电池的GaAs/InP晶片低温直接键合方法,包括如下步骤:步骤1:将单面抛光的GaAs、InP晶片在多种有机溶剂中反复煮洗,以去掉晶片表面的残留有机物分子,并初步提高晶片表面的亲水性;步骤2:将步骤1处理后的GaAs、InP晶片,分别进行去金属氧化物处理、去C元素处理和亲水性处理;步骤3:在键合夹具的协助下,将亲水处理后的GaAs、InP晶片在去离子水中对准晶向并贴合;步骤4:将贴合后的晶片置于干燥箱中烘干,除去贴合晶片表面水份和界面部分水气,形成晶片间范德瓦耳斯结合;步骤5:进行低温退火,退火后对GaAs晶片单面减薄;步骤6:进行高温退火,最终实现键合界面的原子原子键结合,完成GaAs、InP晶片低温键合过程。
申请公布号 CN101807626A 申请公布日期 2010.08.18
申请号 CN201010128380.9 申请日期 2010.03.17
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 晏磊;于丽娟
分类号 H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种用于多结太阳电池的GaAs/InP晶片低温直接键合方法,包括如下步骤:步骤1:将单面抛光的GaAs、InP晶片在多种有机溶剂中反复煮洗,以去掉晶片表面的残留有机物分子,并初步提高晶片表面的亲水性;步骤2:将步骤1处理后的GaAs、InP晶片,分别进行去金属氧化物处理、去C元素处理和亲水性处理;步骤3:在键合夹具的协助下,将亲水处理后的GaAs、InP晶片在去离子水中对准晶向并贴合;步骤4:将贴合后的晶片置于干燥箱中烘干,除去贴合晶片表面水份和界面部分水气,形成晶片间范德瓦耳斯结合;步骤5:进行低温退火,退火后对GaAs晶片单面减薄;步骤6:进行高温退火,最终实现键合界面的原子原子键结合,完成GaAs、InP晶片低温键合过程。
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号