发明名称 | 使用扇出/扇入矩阵的错误捕获RAM支持 | ||
摘要 | 根据本发明的一个实施例,提供了一种从多个被测设备获得测试数据的方法和设备。根据一个实施例,这可通过以下实现:从测试设备输出测试信号,用于并行输入到至少两个被测设备;向所述测试设备并行输入至少两个响应信号,每个响应信号是由所述至少两个被测设备之一产生的;在存储设备中存储并行接收的所述响应信号;并且从所述存储设备串行输出所述响应信号。 | ||
申请公布号 | CN101809883A | 申请公布日期 | 2010.08.18 |
申请号 | CN200880104187.2 | 申请日期 | 2008.08.20 |
申请人 | 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司 | 发明人 | 爱德马度·德·拉·帕恩特 |
分类号 | H04B3/46(2006.01)I | 主分类号 | H04B3/46(2006.01)I |
代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 宋鹤;南霆 |
主权项 | 一种从多个被测设备获得测试数据的方法,所述方法包括:从测试设备输出第一测试信号,用于并行输入到至少两个被测设备;向所述测试设备并行输入至少两个响应信号,每个响应信号是响应于所述第一测试信号由所述至少两个被测设备之一产生的;在存储设备中存储并行接收的所述响应信号;从所述存储设备串行输出所述响应信号。 | ||
地址 | 新加坡新加坡市 |