发明名称 |
表征电子元件对能量相互作用的敏感性的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种表征电子元件限制其对能量相互作用敏感性的使用条件的方法。测量承受脉冲激光辐射的元件的性能。通过检测元件运行的暂时或持久故障,确定这个元件对哪个偏置值、频率值和温度值(或者其他的使用条件)敏感。如果必要,在检测时,产生的寄生电流被阻止损害被检测的元件。从而推断出元件对能量相互作用的敏感性和这个元件运行的最优条件。 |
申请公布号 |
CN101809455A |
申请公布日期 |
2010.08.18 |
申请号 |
CN200880105950.3 |
申请日期 |
2008.09.05 |
申请人 |
欧洲航空防务及航天公司EADS法国 |
发明人 |
N·比阿尔;F·米勒;P·安;T·卡里埃 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R31/311(2006.01)I;G01R31/30(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
郭思宇 |
主权项 |
一种表征电子元件(1)中对能量相互作用的敏感性的方法,其中,将电子元件投入使用(6,11,19),通过(13)激光辐射(14)激发(12)投入使用的电子元件,测量(24)与这个激发的值相对应的投入使用的电子元件的运行故障,其特征在于改变(26)元件的使用条件,即元件的电接触区的极化(偏置)、和/或输入信号、和/或控制信号、和/或频率、和/或温度、和/或输出负荷,作为特性,测量(图6)改变的使用条件,对于这些改变的使用条件,元件出现或不出现由于触发现象的运行故障。 |
地址 |
法国巴黎 |