发明名称 一种用于集成运放测试的装置
摘要 本实用新型公开了一种用于集成运放测试的装置,包括测试装置,测试装置与TR-6800主机和探针台分别连接,TR-6800主机与工业PC和探针台分别连接;所述的测试装置,由待测器件的DUT底板和多个运放测试小板组成,DUT底板上设置有多个30型针插槽,每个30型针插槽用于与一块运放测试小板连接,DUT底板上设置有一个双运放测试座、一个四运放测试座和一个信号传输接口。本实用新型的装置,可以在TR-6800集成电路测试系统上跟据可编程源的多少来选择串行或并行测试,具有测试项目全面,测试数据精确,工作稳定的特点。
申请公布号 CN201555931U 申请公布日期 2010.08.18
申请号 CN200920245790.4 申请日期 2009.12.16
申请人 西安明泰半导体测试有限公司 发明人 李仰鹤
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 西安弘理专利事务所 61214 代理人 罗笛
主权项 一种用于集成运放测试的装置,其特征在于,包括测试装置(5),测试装置(5)与TR-6800主机(2)和探针台(4)分别连接,TR-6800主机(2)与工业PC(1)和探针台(4)分别连接;所述的测试装置(5),由待测器件的DUT底板(6)和多个运放测试小板(7)组成,DUT底板(6)上设置有多个30型针插槽(23),每个30型针插槽(23)用于与一块运放测试小板(7)连接,DUT底板(6)上设置有一个双运放测试座(25)、一个四运放测试座(27)和一个信号传输接口(28)。
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