发明名称 |
Verfahren zur Strukturierung einer Halbleiteroberfläche und Halbleiterchip |
摘要 |
Es wird ein Verfahren zur Strukturierung einer Halbleiteroberfläche angegeben, mit den folgenden Schritten: - Bereitstellen eines ersten Wafers (1), welcher eine strukturierte Oberfläche (11) aufweist; - Bereitstellen eines zweiten Halbleiterwafers (3); - Aufbringen eines Fotolacks (2) auf die Außenflächen des zweiten Halbleiterwafers (3); - Strukturieren der dem zweiten Halbleiterwafer (3) abgewandten Oberfläche des Fotolacks (2) durch Abdrucken der strukturierten Oberfläche (11) des ersten Wafers (1) in den Fotolack (2); - Anwendung eines Strukturierungsverfahrens (6) auf die strukturierte Oberfläche (21) des Fotolacks (2), wobei - die auf dem Fotolack (2) aufgebrachte Struktur zumindest stellenweise auf die Außenfläche (31) des zweiten Halbleiterwafers (3) übertragen wird.
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申请公布号 |
DE102009008223(A1) |
申请公布日期 |
2010.08.12 |
申请号 |
DE200910008223 |
申请日期 |
2009.02.10 |
申请人 |
OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH |
发明人 |
BAUR, ELMAR;BOEHM, BERND;HEINDL, ALEXANDER;RODE, PATRICK;SABATHIL, MATTHIAS |
分类号 |
H01L33/00;H01L21/302 |
主分类号 |
H01L33/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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