发明名称 |
Vergrößerte Tiefe von Drain- und Sourcegebieten in komplementären Transistoren durch Herstellen eines tiefen Drain- und Sourcegebiets vor der Ätzung einer Aussparung |
摘要 |
Tiefe Drain- und Sourcegebiete eines n-Kanaltransistors werden durch entsprechende Aussparungen hindurch gebildet, welche zusammen mit Aussparungen eines p-Kanaltransistors hergestellt werden, wobei die lateralen Abstände der Aussparungen auf der Grundlage eines geeigneten Umkehrabstandshalterschemas eingestellt werden. folglich erstrecken sich die Dotierstoffsorten in n-Kanaltransistoren bis hinab zu einer spezifizierten Tiefe, beispielsweise bis zu der vergrabenen isolierenden Schicht eines SOI-Bauelements, wobei gleichzeitig ein effizienter verformungsinduzierender Mechanismus für den p-Kanaltransistor mit einem sehr effizienten Gesamtfertigungsablaufs bereitgestellt wird.
|
申请公布号 |
DE102009006800(A1) |
申请公布日期 |
2010.08.12 |
申请号 |
DE200910006800 |
申请日期 |
2009.01.30 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG |
发明人 |
GRIEBENOW, UWE;HOENTSCHEL, JAN;BEYER, SVEN |
分类号 |
H01L21/8238;H01L21/8234;H01L27/092 |
主分类号 |
H01L21/8238 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|