发明名称 Vergrößerte Tiefe von Drain- und Sourcegebieten in komplementären Transistoren durch Herstellen eines tiefen Drain- und Sourcegebiets vor der Ätzung einer Aussparung
摘要 Tiefe Drain- und Sourcegebiete eines n-Kanaltransistors werden durch entsprechende Aussparungen hindurch gebildet, welche zusammen mit Aussparungen eines p-Kanaltransistors hergestellt werden, wobei die lateralen Abstände der Aussparungen auf der Grundlage eines geeigneten Umkehrabstandshalterschemas eingestellt werden. folglich erstrecken sich die Dotierstoffsorten in n-Kanaltransistoren bis hinab zu einer spezifizierten Tiefe, beispielsweise bis zu der vergrabenen isolierenden Schicht eines SOI-Bauelements, wobei gleichzeitig ein effizienter verformungsinduzierender Mechanismus für den p-Kanaltransistor mit einem sehr effizienten Gesamtfertigungsablaufs bereitgestellt wird.
申请公布号 DE102009006800(A1) 申请公布日期 2010.08.12
申请号 DE200910006800 申请日期 2009.01.30
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG 发明人 GRIEBENOW, UWE;HOENTSCHEL, JAN;BEYER, SVEN
分类号 H01L21/8238;H01L21/8234;H01L27/092 主分类号 H01L21/8238
代理机构 代理人
主权项
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