用于量测流体成分与特性之试片、装置、试片读取码的装置及其相关系统;TEST STRIP AND DEVICE FOR MEASURING FLUID PROPERTIES AND SYSTEM INCORPORATING THE SAME

摘要

本新型系揭示一种用于量测流体成分与特性之试片、装置、试片读取码的装置及其相关系统；该试片包括一样本接收部，以及复数个延伸于一电极面并与该样本接收部相交的量测电极；该试片也包括一与该电极面相互垂直的接触面，该接触面包括复数个接点，该些接点适于在与该接触面的法线方向被推抵向一连接器，而与该连接器电性连接；该些接点系该试片特性相关的资讯码，系藉由将该些接点以间隔设置来调整大小而形成该资讯码；同样地，该些接点亦可藉由部分接点为绝缘来形成该资讯码。

主权项

1.一种用于量测流体成分与特性之试片，包含：一样本接收部；复数个于一电极面延伸而与该样本接收部相交之量测电极；以及，一与该电极面形成有夹角的接触面，该接触面包括复数个接点，该些接点系用以编列一与该试片特性相关的资讯码，适于在与该接触面的法线方向被推抵向一连接器，而与该连接器电性连接。 ;2.如申请专利范围第1项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该些接点系以间隔设置来调整大小而形成该试片特性相关的资讯码。 ;3.如申请专利范围第1项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该些接点系预先选择部份接点为绝缘，以形成该试片特性相关的资讯码。 ;4.如申请专利范围第1项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该些量测电极系沿着一电极面延伸，以及该接触面系与该电极面相互垂直。 ;5.如申请专利范围第1项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该些接点为平面的。 ;6.如申请专利范围第1项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该接触面系与该电极面趋近于相互垂直。 ;7.如申请专利范围第6项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该接触面系与该电极面相互垂直。 ;8.如申请专利范围第1项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该样本接收部系为一流体腔的形式。 ;9.一种用于量测流体成分与特性之装置，其中所述的装置系提供与一试片接合使用，而该试片包括复数个设置在一电极面上并与一样本接收部相交的量测电极，以及一实质上与该电极面垂直的接触面，其包括复数个接点，该些接点系用以编列一与该试片特性相关的资讯码，而该装置包含：一连接器，适于在该试片于该接触面的法线方向被推抵向该连接器，而与该些平面的接点电性连接；一处理器；以及，一电路板，该电路板包括复数个将该处理器与该连接器相互电性连接的导电路径，藉此在该些接点与该连接器介面接触时，该试片特性相关的资讯即可由该处理器存取与运算。 ;10.如申请专利范围第9项所述的用于量测流体成分与特性之装置，其中该连接器系一具弹性的连接器。 ;11.如申请专利范围第10项所述的用于量测流体成分与特性之装置，其中该连接器系被放置于一被调整大小并被设定用以容置该试片的插槽内。 ;12.如申请专利范围第11项所述的用于量测流体成分与特性之装置，其中该插槽包括复数个电极接点，每一电极接点系用以电性连接一对应的量测电极。 ;13.一种用于量测流体成分与特性之系统，包含：一试片，该试片包括：一样本接收部；复数个沿着一电极面延伸并与该样本接收部相交的量测电极；以及，一与该电极面趋近相互垂直且包括复数个平面的接点之接触面，该些接点系用以编列一与该试片特性相关的资讯码；以及，一装置，该装置包括：一连接器，适于在该试片于该接触面的法线方向被推抵向该连接器，而与该些平面的接点电性连接；一处理器；以及，一电路板，该电路板包括复数个将该处理器与该连接器相互电性连接的导电路径，藉此在该些平面的接点与该连接器介面接触时，该试片特性相关的资讯即可由该处理器存取与运算。 ;14.如申请专利范围第13项所述的用于量测流体成分与特性之系统，其中该些接点系以间隔设置来调整大小而形成该试片特性相关的资讯码。 ;15.如申请专利范围第13项所述的用于量测流体成分与特性之系统，其中该些接点系预先选择部份接点为绝缘，以形成该试片特性相关的资讯码。 ;16.如申请专利范围第13项所述的用于量测流体成分与特性之系统，其中该连接器系一具弹性的连接器。 ;17.如申请专利范围第16项所述的用于量测流体成分与特性之系统，其中该连接器系被放置于一被调整大小并被设定用以容置该试片的插槽内。 ;18.如申请专利范围第17项所述的用于量测流体成分与特性之系统，其中该插槽包括复数个电极接点，每一电极接点系用以电性连接一对应的量测电极。 ;19.一种用于量测流体成分与特性之试片，该试片包括：一样本接收部；以及，一接触面，该接触面包括复数个接点，系适于在该接触面的法线方向被推抵向一连接器，而与该连接器电性连接，其中该些接点系用以编列一与该试片特性相关的资讯码。 ;20.如申请专利范围第19项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该试片为一电化学试片。 ;21.如申请专利范围第19项所述的用于量测流体成分与特性之试片，其中该试片为一光度试片。 ;22.一种用于量测流体成分与特性之试片读取码的装置，其中该试片包括一接触面，该接触面包括复数个平面的接点，该些接点系用以编列一与该试片特性相关的资讯码，该装置包含：一具弹性的连接器，该连接器适于在该试片于该接触面的法线方向被推抵向该连接器，而与该些平面的接点电性连接；一处理器；以及，一电路板，该电路板包括复数个将该处理器与该连接器相互电性连接的导电路径，藉此在该些平面的接点与该连接器介面接触时，该试片特性相关的资讯即可由该处理器存取与运算。;图1，为习知技术中被设定用以容置对应试片的连接器上视图；图2，为习知「图1」中的连接器所使用的试片局部上视图；图3，为本新型用以量测流体成分与特性之系统的较佳实施例透视图；图4，为本新型「图3」的系统在试片被置入插槽的透视图；图5，为本新型「图3」与「图4」的插槽局部放大透视图；图6，为本新型「图5」中的连接器局部放大透视图；图7-1，为本新型试片的接点对准连接器之局部上视图；图7-2，为本新型试片的接点未对准连接器之局部上视图；图8-1，为本新型试片的接点的局部透视图；图8-2，为本新型「图8-1」的试片在其中一个接点被移除状态下之局部透视图；图9，为本新型试片的另一样态局部透视图；图10，为本新型试片的再一样态局部透视图；图11，为本新型试片的又一样态局部透视图；图12，为本新型用以量测流体成分与特性之系统在该试片自不同侧与连接器介面接触情形的透视图。