全像光学储存系统中侦测与补偿损坏像素的方法;METHOD OF DETECTING AND COMPENSATING FAIL PIXEL IN HOLOGRAM OPTICAL STORAGE SYSTEM

摘要

本发明揭露一种全像光学储存系统中侦测损坏像素的方法，包括下列步骤：提供复数幅影像资讯依序显示于一资料平面上，使得该资料平面中的每个像素皆会显示一亮以及一暗的二种状态；依序将该显示平面上的该些幅影像资讯记录于一储存媒介中；利用一光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像资讯，使得该光侦测装置中的每一个像素皆可接收到该亮以及该暗的二种状态使得每一个像素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号；各别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值；将该光感测信号差值与一临限值进行比较；当该光感测信号差值大于该临限值时，定义该相对应的像素为无损坏；以及，当光感测信号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为一损坏像素。

主权项

1.一种全像光学储存系统中侦测损坏像素的方法，包括下列步骤：提供复数幅影像资讯依序显示于一资料平面上，使得该资料平面中的每个像素皆会显示一亮以及一暗的二种状态；依序将该显示平面上的该些幅影像资讯记录于一储存媒介中；利用一光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像资讯，使得该光侦测装置中的每一个像素皆可接收到该亮以及该暗的二种状态并使得每一个像素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号；各别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值；将该光感测信号差值与一临限值进行比较；当该光感测信号差值大于该临限值时，定义该相对应的像素为无损坏；以及当该光感测信号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为一损坏像素。 ;2.如申请专利范围第1项所述之方法，更包括下列步骤：提供一雷射光束直接照射于该光侦测装置；当该像素可输出一相对应的光感测信号时，定义为该资料平面上的像素损坏；以及当该像素无法输出该相对应的光感测信号时，定义为该光侦测装置上的像素损坏。 ;3.如申请专利范围第2项所述之方法，其中该雷射光束为一全亮的雷射光束，且该相对应的光感测信号代表一大振幅的光感测信号。 ;4.如申请专利范围第2项所述之方法，其中该雷射光束为一全暗的雷射光束，且该相对应的光感测信号代表一小振幅的光感测信号。 ;5.如申请专利范围第1项所述之方法，更包括下列步骤：提供一全亮的雷射光束与一全暗的雷射光束照射于该光侦测装置；当该像素可输出一相对应的大振幅光感测信号时与一相对应的小振幅光感测信号时，定义为该资料平面上的像素损坏；以及当该像素无法输出该相对应的大振幅光感测信号时与该相对应的小振幅光感测信号时，定义为该光侦测装置上的像素损坏。 ;6.如申请专利范围第1项所述之方法，其中该资料平面系为一空间光调变器。 ;7.如申请专利范围第6项所述之方法，其中该空间光调变器可为一数位微型反射镜阵列或一液晶面板。 ;8.如申请专利范围第1项所述之方法，其中该储存媒介系为一光聚合物。 ;9.如申请专利范围第1项所述之方法，其中该光侦测装置系为一电荷耦合元件或者一互补金氧化物半导体。 ;10.一种全像光学储存系统中补偿像素的方法，运用于一资料平面的一区域中已知的一亮状态会出现一第一数目与一暗状态会出现一第二数目，包括下列步骤：计算一光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素产生的一亮状态数目总合；计算该光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素所产生一暗状态数目总合；当该第一数目与该亮状态数目总合相等且该第二数目与该暗状态数目总合不相等时，定义一损坏像素输出该暗状态；以及当该第一数目与该亮状态数目总合不相等且该第二数目与该暗状态数目总合相等时，定义该损坏像素输出该亮状态。 ;11.如申请专利范围第10项所述之方法，其中该资料平面系为一空间光调变器，且该空间光调变器包括一数位微型反射镜阵列或一液晶面板。 ;12.如申请专利范围第10项所述之方法，其中该光侦测装置系为一电荷耦合元件或者一互补金氧化物半导体。 ;13.一种全像光学储存系统中侦测损坏像素与补偿像素的方法，运用于一资料平面的一区域中已知的一亮状态会出现一第一数目，包括下列步骤：提供复数幅影像资讯依序显示于该资料平面上，使得该资料平面中的每个像素皆会显示该亮以及该暗的二种状态；依序将该显示平面上的该些幅影像资讯记录于一储存媒介中；利用一光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像资讯，使得该光侦测装置中的每一个像素皆可接收到该亮以及该暗的二种状态并使得每一个像素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号；各别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值；当该光感测信号差值小于该临限值时，定义该相对应的像素为一损坏像素；当该损坏像素位于相对应于该资料平面的该区域上时，计算该光侦测装置上相对于该资料平面该区域上所有像素产生的一亮状态数目总合；当该第一数目与该亮状态数目总合不相等时，定义一损坏像素输出该亮状态；以及当该第一数目与该亮状态数目总合相等时，定义该损坏像素输出该暗状态。 ;14.如申请专利范围第13项所述之方法，更包括下列步骤：提供一雷射光束直接照射于该光侦测装置；当该像素可输出一相对应的光感测信号时，定义为该资料平面上的像素损坏；以及当该像素无法输出该相对应的光感测信号时，定义为该光侦测装置上的像素损坏。 ;15.如申请专利范围第14项所述之方法，其中该雷射光束为一全亮的雷射光束，且该相对应的光感测信号代表一大振幅的光感测信号。 ;16.如申请专利范围第14项所述之方法，其中该雷射光束为一全暗的雷射光束，且该相对应的光感测信号代表一小振幅的光感测信号。 ;17.如申请专利范围第13项所述之方法，更包括下列步骤：提供一全亮的雷射光束与一全暗的雷射光束照射于该光侦测装置；当该像素可输出一相对应的大振幅光感测信号时与一相对应的小振幅光感测信号时，定义为该资料平面上的像素损坏；以及当该像素无法输出该相对应的大振幅光感测信号时与该相对应的小振幅光感测信号时，定义为该光侦测装置上的像素损坏。 ;18.如申请专利范围第13项所述之方法，其中该资料平面系为一空间光调变器，且该空间光调变器包括一数位微型反射镜阵列或一液晶面板。 ;19.如申请专利范围第13项所述之方法，其中该储存媒介系为一光聚合物。 ;20.如申请专利范围第13项所述之方法，其中该光侦测装置系为一电荷耦合元件或者一互补金氧化物半导体。;本案得藉由下列图式及详细说明，俾得一更深入之了解：第一图所绘示为全像光学储存系统示意图。;第二图所绘示为本发明全像光学储存系统中侦测损坏像素的方法流程图。;第三图所绘示为本发明全像光学储存系统确认光侦测装置或者资料平面上损坏像素的方法流程图。;第四图所绘示为本发明补偿损坏像素的示意图。