| 发明名称 | 带形薄膜的卷绕状态的评估方法以及带形薄膜的卷绕方法 | ||
| 摘要 | 一种带形薄膜卷绕状态的评估方法包括以下步骤：在平行于芯轴(1)的旋转轴线的方向上对该带形薄膜(2)发送超声波、并且接收其反射波或透射波，以确定该带形薄膜(2)的超声波衰减率；以及从该带形薄膜(2)中的衰减率分布状态来评估该带形薄膜(2)的卷绕状态。该方法能够通过给出数值表示来客观地评判该带形薄膜的卷绕状态而无需依赖于感官评估。 | ||
| 申请公布号 | CN101802604A | 申请公布日期 | 2010.08.11 |
| 申请号 | CN200880108019.0 | 申请日期 | 2008.03.19 |
| 申请人 | 电气化学工业株式会社 | 发明人 | 德永久次;日向野正德 |
| 分类号 | G01N29/00(2006.01)I;B65H26/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 朱立鸣;丁晓峰 |
| 主权项 | 一种对卷绕到芯轴上的带形薄膜的卷绕状态进行评估的方法，该方法的特征在于包括以下步骤：在平行于该芯轴的旋转轴线的方向上、朝向该带形薄膜生成超声波，并且接收反射波或透射波，以确定该带形薄膜中的超声波的衰减率；以及根据在该带形薄膜中衰减率分布来评估该带形薄膜的卷绕状态。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||